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美國 IK-TECHNOLOGIES 電子能譜儀MINICMA™對固體表面進(jìn)行微區(qū)成份分析及元素分布。可應(yīng)用于半導(dǎo)體材料、冶金、地質(zhì)等部門。
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LK-TECHNOLOGIES 低能電子衍射儀(LEED)-RVL2000 的精密反向LEED低能電子衍射儀光學(xué)元件采用所有UHV結(jié)構(gòu)，無需使用玻璃纖維或聚合物...
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美國QUEST(QI2)乙烯爐管檢測LOTIS® QC-80，非接觸式測量系統(tǒng)使用*非接觸式激光光學(xué)三角測量，可為管狀結(jié)構(gòu)提供快速掃描和高分辨率數(shù)據(jù)。...
美國QUEST(QI2)螺紋測量系統(tǒng)LOTIS ® QC-X，非接觸式測量系統(tǒng)，非接觸式測量系統(tǒng)使用包含在一臺(tái)便攜式設(shè)備中的快速、非接觸式激光掃描。
美國QUEST(QI2)非接觸式測量定子檢測系統(tǒng)-LOTIS® QC-40，提供價(jià)值鏈；對于制造或翻新中心的質(zhì)量控制，到鉆井平臺(tái)上的檢查員，在那里做出...
美國QUEST(QI2)非接觸式軟管測量系統(tǒng)-LOTIS® QC-20可用于軟管檢測的最快、最準(zhǔn)確的非接觸式測量系統(tǒng)。由于 QC-20 的精確、同步測...
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