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反射式膜厚測量儀在薄膜厚度測量的應(yīng)用
閱讀：3087 發(fā)布時間：2021-3-29
某客戶來料檢測（PET單層膜/多層）：厚度約為40~60μm。
使用臺階儀或其他萬分尺長度量測儀器，單層能到到準(zhǔn)確的數(shù)值，操做簡單，多層不能直接測量，要做出相對厚度，有臺階的樣品或其他才可以測量。
使用我們反射式膜厚測試，直接根據(jù)材料特性（單層/多層）設(shè)置好菜單，通過標(biāo)準(zhǔn)硅片校準(zhǔn)后，直接一鍵量測，直接測量出單層/多層膜厚，不會對產(chǎn)品造成損傷，可以離線也可以在線量測。測量多層膜厚基本上不需要單獨制樣，只是在解析某一膜層折射率（材料庫無信息）時有初次制樣需求。
反射式膜厚測量儀可用于測量：半導(dǎo)體鍍膜，手機觸摸屏ITO等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合。
進行測量簡單可靠，實際測量采樣時間低于1秒。
配合我們的專*軟件進行手動測量，每次測量時間低于5秒。軟件支持50層膜以內(nèi)的模型并可對多層膜厚參數(shù)進行測量。我們軟件擁有近千種材料的材料數(shù)據(jù)庫，同時支持函數(shù)型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光學(xué)（Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz）,混合型（Maxwell Garnett, Bruggeman）EMA 等折射率模型。
同時，客戶還可以通過軟件自帶數(shù)據(jù)庫對材料，菜單進行管理并回溯檢查測量結(jié)果。