SHK-B105两厢冷热冲击试验箱

系统组成整体概述
本系列程序两箱式高低温冷热冲击试验箱主要用于测试材料
对温度的抵抗力，这种情况类似于不连续地处于
高温或低温中的情形，冷热冲击试验能使各种物品在最短的
时间内完成测试。热震中产生的变化或物理伤害是热胀冷缩
改变或其他物理性值的改变而引起的，采用PID系统，各类
产品才能获得*之信赖。热震的效果包括成品裂开或破层
及位移等所引起的电化学变化，PID系统的全数位元自动控
制，将使您操作简易。
冷热冲击试验机是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业
的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，得以在最短时
间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。分
为两厢式和三厢式，区别在于试验方式和内部结构不同，产品符合标准为：GB/T2423.1-2008试验A 、GB/T2423.2-2008试验B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。
满足的试验方法：GJB150.5-86  温度冲击试验，符合MIL，IEC，JIS规范。

第二部份：冷热冲击试验箱用途：

高低温冷热冲击试验箱广泛用于电子电器零元件、自动化零部件、通讯元件、汽车 配件、金属、化学材料、塑胶等行
业国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、
低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的元件，
可作为其产品改进的依据或参考。
第三部份：冷热冲击试验箱满足标准：
GB-2423.1-89（IEC68-2-1）试验A：低温试验方法。
GB-2423.2-89（IEC68-2-2）试验B：高温试验方法。
GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高温寿命试验。
GBJ150.3(MIL-STD-810D)高温试验方法。
GJB150.4(MIL-STD-810D)低温试验方法。      
标GJB150.3-86；
标GJB150.4-86；
标GJB150.5-86；

两厢冷热冲击试验箱