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首頁>>深圳市達瑞博電子有限公司>>產(chǎn)品展示>>KLA-Tencor

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    THERMA-WAVE TP 630 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓測試和計量設備，廣泛應用于半導體、數(shù)據(jù)存儲和光伏產(chǎn)業(yè)。該設備具備多種尖duan技術，能夠提供高精...
    型號： THERMA-WA... 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    THERMA-WAVE TP 630晶圓測試和計量紅外激光掃描光學器件雙色高溫計紅外成像技術和分析技術
    2025/4/29 9:50:57863

  • 光學計量儀 參考價：面議

    KLA-Tencor Spectra-Shape 8660 光學計量儀是一種先進的半導體晶圓測試和計量設備，主要用于精確測量半導體晶圓的特征尺寸和形狀。該系統(tǒng)采...
    型號： Spectra-S... 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    半導體晶圓測試和計量CD測量和形狀測量自動非接觸式2D（高度）測量非接觸式計量工具缺陷審查
    2025/4/29 9:48:41500

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor Puma 9100 晶圓檢測儀是一款先進的半導體晶圓測試和計量設備，廣泛應用于生產(chǎn)及研發(fā)領域。該設備具有高精度和可重復性的特點，能夠提供精...
    型號： Puma 9100 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    半導體晶圓測試和計量設備自動化樣品處理能力微米級測量暗場缺陷檢測高精度和可重復性
    2025/4/29 9:46:58653

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor Puma 9000 晶圓檢測儀是一款優(yōu)良的晶圓檢測和計量設備，廣泛應用于半導體制造業(yè)。該系統(tǒng)利用KLA-Tencor創(chuàng)新的Streak&t...
    型號： Puma 9000 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    晶圓檢測和計量Streak™暗視野成像技術高分辨率成像光學掃描高速成像技術
    2025/4/29 9:45:21876

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor AIT XUV 晶圓檢測儀是一款優(yōu)良的晶圓測試和計量設備，主要用于半導體行業(yè)的高精度檢測。該系統(tǒng)采用超紫外（UV）模式匹配技術和最新一代的...
    型號： AIT XUV 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    晶圓測試和計量超紫外（UV）模式1/10000毫米大小激光掃描雙暗場光學檢查
    2025/4/29 9:43:44629

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor AIT XP 晶圓檢測儀是一款功能強大且高效的晶圓測試和計量設備，通過其先進的檢測技術、自動化功能和模塊化設計，能夠顯著提升半導體制造過程...
    型號： AIT XP 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    圖案化晶圓晶圓測試和計量暗場顯微鏡技術缺陷檢測掩模
    2025/4/29 9:41:37704

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor AIT II 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓測試和計量系統(tǒng)，專為半導體行業(yè)設計。該系統(tǒng)具有多種功能和特點，使其在晶圓缺陷檢測和過程控制方面表現(xiàn)...
    型號： AIT II 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    晶圓測試和計量200mm、300mm甚至450mm雙暗場檢查工具SECS/GEM通信接口缺陷檢查
    2025/4/29 9:39:48742

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor AIT I 晶圓檢測儀是一種用于檢測圖案化晶圓表面缺陷的系統(tǒng)。該系統(tǒng)配置為處理6英寸（150毫米）和8英寸（200毫米）的晶圓，并具備自動...
    型號： AIT I 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    圖案化晶圓表面缺陷6英寸（150毫米）8英寸（200毫米）自動對焦雙暗場檢查
    2025/4/29 9:37:45622

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor 2351 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓和掩模檢測系統(tǒng)，廣泛應用于半導體制造行業(yè)。該系統(tǒng)具備多種功能，包括高分辨率成像、自動化分析以及專門的缺...
    型號： 2351 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    晶圓檢測儀KLA-Tencor掩模檢測系統(tǒng)缺陷檢測200mm晶圓尺寸
    2025/4/29 9:35:35755

  • 晶圓檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor 2135 晶圓檢測儀是一種高duan的掩模和晶圓檢測系統(tǒng)，具有多種先進技術和高靈敏度成像功能。以下是其詳細規(guī)格參數(shù)：用途：主要用于圖案化晶...
    型號： 2135 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    晶圓檢測儀KLA-Tencor晶圓檢測系統(tǒng)缺陷檢測晶片表面映射
    2025/4/29 9:33:11652

  • 顆粒檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor Surfscan SP2 顆粒檢測儀是一款先進的掩模和晶圓檢測設備，廣泛應用于集成電路(IC)制造過程中的缺陷檢測與分類。該系統(tǒng)采用先進的...
    型號： SP2 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    顆粒檢測儀晶圓檢測KLA-Tencor缺陷檢測晶圓檢測儀
    2025/4/29 9:30:421139

  • 顆粒檢測儀 參考價：面議

    KLA-Tencor SFS6420 顆粒檢測儀是一種用于晶圓檢測和計量的系統(tǒng)，廣泛應用于半導體制造領域。該設備由KLA-Tencor公司生產(chǎn)，具有多種功能和特...
    型號： SFS6420 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市 對比
    顆粒檢測儀KLA-Tencor晶圓檢測表面分析計量
    2025/4/29 9:28:43647
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