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源测单元优化小技巧
阅读：385 发布时间：2021-12-28
源测单元由于其将可编程电源、可编程负载和DMM的功能集成到一台仪器而日益普及。然而，大多数工程师只是表面上理解了SMU对其测试系统性能和吞吐量的影响。为了实现减少成本和测试时间的目标，以下七个技巧可让您更快速、更经济地分析和验证产品。SMU未达到稳定状态就开始测量会导致不确定的测试结果，但等待过久又会浪费宝贵的时间。这时，您可使用示波器或数字化仪来探测SMU 的输出电平，同时将其连接到待测设备（DUT）以确保等待SMU达到稳定状态开始测量的时间不会过短或过长。
源测单元优化小技巧：
1.针对每个待测设备自定义SMU的瞬态响应
传统SMU采用固定的模拟电路来配置电源的瞬态响应或上升时间。 这种方法通常只提供两种设置（正常和高电容）来自定义每个DUT的电源响应，但并未针对DUT的特性进行优化。 NI PXIe-4139采用了NI SourceAdapt技术，以数字方式控制SMU的瞬态属性，可很大限度提高稳定性，减小过冲，并大大缩短测试时间。
2.使用自校准提高测量重复性
大多数仪器的校准周期是一到两年，而在这段期间，仪器会慢慢偏移校准点。 现代SMU能够以已知信号的测量值为参考，比较两个值之间的差后对仪器进行数字调谐来达到校准目的。 虽然这不会延长校准周期，但确实有助于克服SMU的时间和温度漂移影响。
3.采用硬件定时的序列
软件定时的序列是快速启动和运行SMU进行自动化测量的一种有效方法。 但是，对于时间敏感序列，软件抖动会大大降低测试系统的确定性。 速度快的另一个好处是可以消除每次测量上位机和仪器之间的通信延迟。 而硬件定时的序列则可允许您更改每个步骤SMU的各种参数，如输出模式、空隙时间、电流范围和瞬态响应。