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蘇州科準(zhǔn)測控有限公司
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從原理到實(shí)踐:推拉力測試儀在芯片封裝銀膠評估中的標(biāo)準(zhǔn)化操作

時間:2025/6/7閱讀:39
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隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展,芯片封裝技術(shù)面臨著越來越高的性能要求。導(dǎo)電銀膠作為一種關(guān)鍵的封裝材料,其性能直接影響到芯片的導(dǎo)電性、熱傳導(dǎo)性和長期可靠性??茰?zhǔn)測控小編認(rèn)為,全面了解導(dǎo)電銀膠的性能參數(shù)及其評估方法,對于封裝工藝的優(yōu)化和產(chǎn)品質(zhì)量的提升至關(guān)重要。

本文科準(zhǔn)測控小編將系統(tǒng)介紹導(dǎo)電銀膠的力學(xué)性能測試方法、評估原理、測試標(biāo)準(zhǔn)、儀器設(shè)備以及完整的測試流程,為半導(dǎo)體封裝工程師提供實(shí)用的技術(shù)參考。

 

一、導(dǎo)電銀膠評估原理

導(dǎo)電銀膠的性能評估基于材料科學(xué)和電子封裝的基本原理,主要包括以下幾個方面:

導(dǎo)電性能評估原理:基于歐姆定律,通過測量電壓降和電流計(jì)算電阻率

力學(xué)性能評估原理:基于材料力學(xué)理論,評估材料在不同應(yīng)力條件下的響應(yīng)

熱性能評估原理:基于聚合物相變理論和熱力學(xué)原理,評估材料的熱穩(wěn)定性

這些評估需要綜合考慮材料本身的特性及其與芯片、基板之間的相互作用。

二、關(guān)鍵參數(shù)及評估標(biāo)準(zhǔn)

1、力學(xué)性能

a、剪切強(qiáng)度

測試標(biāo)準(zhǔn):JEDEC JESD22-B117、MIL-STD-883 Method 2019

評估方法:使用推拉力測試儀測量芯片脫離基板所需的最大力

合格標(biāo)準(zhǔn):對于2mm×2mm芯片,剪切強(qiáng)度應(yīng)≥8kg

b、粘結(jié)強(qiáng)度

測試標(biāo)準(zhǔn):ASTM D903、ASTM D4541

評估方法:

剝離強(qiáng)度測試:測量單位寬度的剝離力

拉伸強(qiáng)度測試:測量垂直方向的粘結(jié)力

合格標(biāo)準(zhǔn):視具體應(yīng)用而定,通常要求5MPa

 

三、測試儀器介紹

1Alpha W260推拉力測試儀

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Alpha W260推拉力測試儀是評估導(dǎo)電銀膠力學(xué)性能的專業(yè)設(shè)備,具有以下特點(diǎn):

高精度測量:采用24Bit超高分辨率數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),確保測試數(shù)據(jù)的高精度、高重復(fù)性和高再現(xiàn)性。

多功能測試:支持推力、拉力、剪切力等多種測試模式,適用于多種封裝形式和測試需求。

智能化操作:配備搖桿操作和X、Y軸自動工作臺,簡化了測試流程,提高了測試效率。

安全設(shè)計(jì):每個工位均設(shè)有獨(dú)立安全高度和限速,有效防止誤操作對設(shè)備和樣品的損壞。

模塊化設(shè)計(jì):能夠自動識別并更換不同量程的測試模組,適應(yīng)不同產(chǎn)品的測試需求。

2、推刀

image.png 

3、常用工裝夾具

image.png 

4、KZ-68SC-05XY萬能材料試驗(yàn)機(jī)

image.png 

 

四、測試流程

步驟一、樣品制備

選擇標(biāo)準(zhǔn)測試芯片和基板

按照供應(yīng)商推薦工藝點(diǎn)膠、貼裝

按規(guī)定的固化條件(溫度、時間、氣氛)固化銀膠

步驟二、力學(xué)性能測試流程

1、剪切強(qiáng)度測試(使用Alpha W260推拉力測試儀)

image.png 

將樣品固定在測試平臺上

設(shè)置測試參數(shù):測試速度、剪切高度等

啟動測試,推刀以恒定速度推動芯片

記錄芯片脫離時的最大力值

計(jì)算剪切強(qiáng)度:剪切強(qiáng)度=最大力值/芯片面積

2粘結(jié)強(qiáng)度測試

a、剝離測試

將測試膠帶粘貼在固化后的銀膠表面

以恒定角度和速度剝離膠帶

測量剝離過程中的力值變化

b拉伸測試

將樣品固定在拉伸夾具上

以恒定速度拉伸至樣品分離

記錄最大拉伸力

步驟三、結(jié)果分析與可靠性評估

測試完成后,需要對數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析:

計(jì)算平均值、標(biāo)準(zhǔn)差等統(tǒng)計(jì)量

與標(biāo)準(zhǔn)要求或歷史數(shù)據(jù)進(jìn)行對比

評估批次一致性


以上就是小編介紹的有關(guān)于半導(dǎo)體芯片封裝用導(dǎo)電銀膠的評估與可靠性測試相關(guān)內(nèi)容了,希望可以給大家?guī)韼椭?!如果您還想了解更多關(guān)于電阻推力圖片、測試標(biāo)準(zhǔn)、測試方法和測試原理,推拉力測試機(jī)怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項(xiàng)、作業(yè)指導(dǎo)書,原理、怎么校準(zhǔn)和使用方法視頻,推拉力測試儀操作規(guī)范、使用方法和測試視頻 ,焊接強(qiáng)度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題,歡迎您關(guān)注我們,也可以給我們私信和留言,【科準(zhǔn)測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機(jī)在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點(diǎn)、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。

 

 


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