膜厚仪标准片X-RAY测厚仪校正片

用于校准和检验测厚仪的重要工具。

它具有已知的单位面积质量或厚度的均匀覆盖层。

-般来说，选择测厚仪标准片时需考虑以下因素:

要求:应根据测厚仪的厚度要求和实际测量需要选择具有相应的标准片。

2.覆盖层和基体材料:标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料。然而，对于试样基材为合金成分的情况，有些仪器软件允许标样基材与被测试样基材不同，但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。

3.x射线发射(或吸收)特性:校正标准块的覆盖层应与被测覆盖层具有相同的 x射线发射(或吸收)特性。如果厚度由x射线吸收方法或比率方法确定，则厚度标准块的基体应与被测试样的基体具有相同的

X射线镀层测厚仪标准块校正片

MicroP XRF-2020测厚仪标准块

通用型:可应用各种X射线测厚仪品牌

用于校正镀层测厚仪

标准曲线及添加应用程序

铜/镍/锌/铬/银/金/钯/锡/锌镍合金等

膜厚仪标准片X-RAY测厚仪校正片标准片可订制，均附带标准证书