Dexela CMOS數(shù)字射線平板探測(cè)器
我們的平板探測(cè)器設(shè)計(jì)用于滿足工業(yè)和安全行業(yè)中廣泛的成像應(yīng)用。 Varex平板探測(cè)器可防止幾何畸變并使磁場(chǎng)和輻射的影響小化。 檢測(cè)器中發(fā)現(xiàn)的技術(shù)使我們的客戶能夠充分利用的數(shù)字圖像質(zhì)量，高通量以及CT功能。 這些探測(cè)器在整個(gè)視場(chǎng)中呈現(xiàn)出均勻，不失真的高分辨率圖像，使技術(shù)人員能夠拍攝物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)的圖像，例如電子電路和機(jī)械零件。

Dexela CMOS數(shù)字射線平板探測(cè)器

工業(yè)CT掃描服務(wù)

產(chǎn)品展示

Varex為每個(gè)行業(yè)的每個(gè)部分或每個(gè)職位提供工業(yè)CT掃描服務(wù)。 225 kV微聚焦和450 kV標(biāo)準(zhǔn)聚焦系統(tǒng)可滿足醫(yī)療器械制造商，政府機(jī)構(gòu)，法醫(yī)研究人員，博物館，教育機(jī)構(gòu)等許多行業(yè)的CT檢查和測(cè)量需求。 此外，Varex還提供高能量兆伏CT（1MV），用于大型汽車和航空航天鑄造缺陷檢測(cè)，*檢查和逆向工程應(yīng)用。

如果您需要X射線，CT或數(shù)字射線照相掃描服務(wù)，請(qǐng)與我們聯(lián)系。

有關(guān)更多信息， 請(qǐng)索取我們的工業(yè)CT掃描服務(wù)數(shù)據(jù)表 。

克萊蒙德工業(yè)高壓（HV）連接

產(chǎn)品展示

Varex Imaging Claymount高壓電纜連接已應(yīng)用于許多工業(yè)X射線和電子束應(yīng)用以及測(cè)量與測(cè)試設(shè)備，例如：

• 非破壞性測(cè)試

• 電子顯微鏡

• X射線衍射

• 電子束焊接

• 靜電過濾器

• 高壓測(cè)試設(shè)備

有關(guān)更多信息，請(qǐng)下載概述。

安全檢測(cè)器陣列

產(chǎn)品展示

安全檢測(cè)器陣列是為安全市場(chǎng)設(shè)計(jì)的，X射線能量范圍從80 KeV到9 MeV。

高動(dòng)態(tài)范圍

Varex檢測(cè)系統(tǒng)可以對(duì)空氣中細(xì)微的細(xì)節(jié)（約0.5毫米的金屬絲）進(jìn)行成像，同時(shí)仍然能夠穿透并看到大量鋼材后面的密集物體。

出色的靈敏度

該檢測(cè)系統(tǒng)可在較大范圍內(nèi)保持對(duì)衰減差異的增量靈敏度

小元件尺寸

探測(cè)器元件的物理尺寸是有助于空間分辨率的另一個(gè)重要決定因素。

信噪比性能

檢測(cè)系統(tǒng)在輸入X射線光子轉(zhuǎn)換為光，將光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，后將電信號(hào)強(qiáng)度轉(zhuǎn)換為數(shù)字形式的各個(gè)階段處理輸入信號(hào)。

散射抑制

Varex檢測(cè)器實(shí)現(xiàn)了一些特殊的設(shè)計(jì)和構(gòu)造注意事項(xiàng)，以*地減少散射的影響。

減少偽影

Varex的檢測(cè)器提供了同步脈沖控制，參考輸出校正，軟件成像處理，自適應(yīng)信號(hào)閾值和其他技術(shù)，可減少和消除終圖像中的偽像。

滲透

穿透力是X射線源的強(qiáng)大功能。 Varex系統(tǒng)提供高于2.5 MeV的能量，以實(shí)現(xiàn)貨物集裝箱的*穿透。

有關(guān)更多信息，請(qǐng)下載數(shù)據(jù)表。 

Dexela CMOS數(shù)字射線平板探測(cè)器