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詳細(xì)介紹
Dexela 1313數(shù)字射線平板探測(cè)器
無損檢測(cè)（NDT）
Varex提供從工業(yè)X射線管到線性加速器，從工業(yè)平板探測(cè)器到成像軟件的無損檢測(cè)（NDT）解決方案。
非破壞性測(cè)試（也稱為非破壞性成像（NDI））是一種成像分析，涵蓋了廣泛的應(yīng)用程序，可在不破壞材料本身的情況下評(píng)估材料的性能。 要求無損檢測(cè)的一些應(yīng)用包括：
- 鑄造檢查
- 焊接和管道成像
- 電子檢查
我們種類繁多的玻璃和陶瓷X射線管為無損檢測(cè)應(yīng)用提供了廣泛的目標(biāo)角度，焦點(diǎn)和功率功能。 對(duì)于需要不同參數(shù)和高分辨率成像的檢查操作，Varex提供了具有小焦點(diǎn)的雙聚焦管和單聚焦管以及帶有鈹（Be）的X射線管，用于低固有過濾。 這項(xiàng)技術(shù)可幫助專業(yè)人士分析管道和其他工業(yè)結(jié)構(gòu)的完整性，而不會(huì)損壞所討論的材料或系統(tǒng)。
Varex工業(yè)平板探測(cè)器還設(shè)計(jì)用于滿足廣泛的非破壞性測(cè)試應(yīng)用。 通過提供各種尺寸的產(chǎn)品，我們的檢測(cè)器有助于防止幾何變形并*地減小磁場和輻射的影響。 我們的探測(cè)器技術(shù)使我們的客戶能夠利用的數(shù)字圖像質(zhì)量，高通量和CT功能。 這些檢測(cè)器可在整個(gè)視場中呈現(xiàn)均勻，不失真的高分辨率圖像，使技術(shù)人員可以拍攝更高質(zhì)量的圖像。 由于我們的平板檢測(cè)器可以捕獲數(shù)字圖像并消除膠片需求，因此可以在更短的時(shí)間內(nèi)捕獲更多圖像。
如果您的非破壞性測(cè)試需求要求您對(duì)需要更高能量的大型結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像，那么我們的線性加速器是一種出色的解決方案，可幫助您對(duì)像火箭和其他航空航天產(chǎn)品一樣大的物體成像。
滿足您的無損檢測(cè)需求的成像解決方案
工業(yè)X射線管
工業(yè)平板探測(cè)器
直線加速器
計(jì)量與材料科學(xué)
材料科學(xué)和計(jì)量X射線系統(tǒng)提供了用于制造各種組件的測(cè)量解決方案，從微型和宏觀零件到大型發(fā)動(dòng)機(jī)和風(fēng)力渦輪機(jī)，都變得更加堅(jiān)固，安全和節(jié)能。
什么是材料科學(xué)？ 從原子尺度看材料的結(jié)構(gòu)并進(jìn)行直接的結(jié)構(gòu)測(cè)量。 有多種測(cè)量材料的X射線方法-包括計(jì)量，熒光，衍射和晶體學(xué)。 計(jì)量是指獲取一組組件的CT圖像以對(duì)其進(jìn)行測(cè)量，對(duì)組件進(jìn)行大量測(cè)試（例如應(yīng)力，熱循環(huán)和濕度），然后獲取另一組CT圖像并分析變化的過程。 X射線衍射和晶體學(xué)用于鑒定材料的原子特性。 X射線被晶體中原子的規(guī)則三維排列衍射，然后通過成像板或檢測(cè)器記錄所得的衍射圖樣。 從衍射圖樣可以診斷出它是一種特殊的材料。 將衍射圖與計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)庫中的衍射圖進(jìn)行比較，以找到匹配結(jié)果。 XRF（X射線熒光）是一種無損分析技術(shù)，用于確定材料的元素組成。 XRF分析儀通過測(cè)量樣品在一次X射線源激發(fā)下發(fā)出的熒光（或二次）X射線來確定樣品的化學(xué)性質(zhì)。 它用于測(cè)試金屬和涂層的厚度。
從科學(xué)研究到工業(yè)質(zhì)量控制（例如：航空航天業(yè)的渦輪機(jī)鑄件質(zhì)量檢查），我們的X射線組件都增強(qiáng)了測(cè)量技術(shù)，可確保在需要高精度的任何地方達(dá)到高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。 和他們的：
- 高動(dòng)態(tài)范圍和對(duì)比度
- 高飽和劑量
- 低劑量時(shí)具有高靈敏度和對(duì)比度
- CMOS檢測(cè)器的高速和低延遲
- 低噪聲
- 能量范圍廣，目標(biāo)材料不同
- Varex Imaging X射線平板探測(cè)器和顯像管為許多科學(xué)X射線應(yīng)用提供了明顯的優(yōu)勢(shì)。
滿足您的材料科學(xué)需求的成像解決方案
工業(yè)平板探測(cè)器
工業(yè)X射線管
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