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日本YP-150I/250I高亮度鹵素?zé)舻囊?guī)格參數(shù)介紹
閱讀：3449 發(fā)布時(shí)間：2021-11-30
YP-150I YP-250I鹵素?zé)艄庠囱b置YAMADA山田光學(xué)
YP-150I高亮度鹵素?zé)?YAMADA山田光學(xué)鹵素光源裝置
YP-150I高亮度鹵素?zé)?YAMADA山田光學(xué)鹵素光源裝置YP-150ID
YP-150I對(duì)應(yīng)檢查6寸半導(dǎo)體晶片
YP-250I可對(duì)應(yīng)檢查8英寸半導(dǎo)體晶片
根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 可檢測(cè)各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅
等半導(dǎo)體晶片及液晶基板表面的異物 劃痕 拋光不均 霧狀 劃傷等 照度在400000Lx以上
YP-250I鹵素?zé)敉L(fēng)機(jī)可選擇螺旋式風(fēng)扇或者管道通風(fēng)型
YP-150I照度范圍φ30
YP-250I照度范圍φ60
用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來(lái)