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Equotip 550 Leeb-金属硬度检测
  • Equotip 550 Leeb-金属硬度检测

货物所在地:上海上海市

地: 瑞士

更新时间:2025-02-05 09:26:47

浏览次数:127

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Equotip 550 Leeb金属硬度检测
里氏硬度原理基于动态(回弹)法,适用于重型、大型或已安装部件的现场检测。根据需要自动转换至所有通用的硬度单位(HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm);自动更正冲击方向确保高准确度 ± 4 HL(硬度为 800 HL 时,准确度为 0.5%);测量范围广泛,可利用各种冲击装置和支撑环来满足绝大多数的硬度检测要求。

Equotip 550 Leeb金属硬度检测

 

性能和优势:

Equotip 550 是便携式硬度检测中功能zui齐全的一体化解决方案。 里氏硬度原理基于动态(回弹)法,适用于重型、大型或已安装部件的现场检测。

结合 Equotip Portable Rockwell 探头,Equotip 550 可使用传统的洛氏硬度静态检测法。 这将能够在现场自动将 Leeb 关联至 Portable Rockwell 的实际压痕硬度值。

新一代 Equotip 触摸屏装置提供由行业专家精心设计的界面,提高了检测效率和改善用户体验。 改进的软件可提供互动向导、自动验证进程、个性化选项和自定义报告功能。 此外,该仪器可兼容后续开发产品。

全彩显示屏使您能够执行高质量的测量和对已测得数据进行分析。特殊设计的外壳适于恶劣的现场使用环境。

迄今为止,Proceq  Equotip 已经成为广泛认可的测量技术和行业标准。 Equotip 装置*众多行业对无损硬度检测的要求。 

特色/应用/标准化/技术数据
Equotip Leeb

· 根据需要自动转换至所有通用的硬度单位(HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm)

· 自动更正冲击方向确保高准确度 ± 4 HL(硬度为 800 HL 时,准确度为 0.5%)

· 测量范围广泛,可利用各种冲击装置和支撑环来满足绝大多数的硬度检测要求。

· 每个冲击装置均可使用硬度范围广泛和精确的硬度测试块,用于定期验证。

 

Equotip 550 Touchscreen Unit

· ??榛拍睿?利用各种型号的探头和配件灵活配置各种行业应用

· 组合法: 在现场自动将 Leeb 关联至 Portable Rockwell 的实际压痕硬度值

· 引导向导: 预定义工作流以增强进程可靠性和提高测量精确度

· 自动验证: 根据 ISO 16859 和 ASTM A956 逐步验证

· 互动指南: 通过屏幕通知为您的应用获取zui相关的设置

· 转换曲线: 直接在仪器上创建、编辑和验证转换曲线

· 自定义报告: 模块化报告处理器允许自定义测量报告

· 自动选项: 将 NDT 自动操作集成至质量管理系统和自动检测环境

· 外壳经过特殊设计,可用于严苛的现场环境 (IP 54),包括背带、集成支架和遮阳盖

· 高分辨率彩色显示屏

· 电池使用时长 > 8h

· 8 GB 闪存

· 双核处理器,支持各种通信接口和外围接口: 探头连接器、USB 主机、USB 装置和以太网

· 通过直接兼容后续开发产品,实现未来保障投资

· 里氏回弹硬度检测主要用于金属测量,还可用于复合材料、橡胶和岩石检测

· 适用于材料挑选、验收和生产环节检测

· 适用于重型和大型部件安装前后的现场检测

· 方便用于难进入或空间有限的金属硬度检测场地

Proceq 提供一些附件,例如一个测量夹或几个支撑脚,适合在各种测试件结构上进行手动硬度测量

 

标准

· ASTM A956 / E140 / A370

· ISO EN 16859(即将发布

· DIN 50156

· GB/T 17394

· JB/T 9378

准则

· ASME CRTD-91

· DGZfP Guideline MC 1

· VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1

· Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36

 

仪器

· 显示屏 7” 彩色显示屏 800 x 480 像素

· 内存:内置 8 GB 闪存(可存储多达 1000000 个测量值)

· 区域设置 公制和英制单位,支持多种语言和时区

· 电池 锂聚合物,3.6 V、14.0 Ah

· 电池使用时长 > 8h(标准操作模式下)

· 电源输入 12 V +/-25 % / 1.5 A

· 重量(显示装置) 大约 1525 g(含电池)

· 尺寸 250 x 162 x 62 mm

· zui高海拔 2500 m 海拔高度

· 湿度 < 95?%RH,非冷凝

· 操作温度 0°C  30°C(32 至 86°F) (正在充电且仪器正在运行)
           0°C 至 40°C(32 至 104°F)  (正在充电且仪器关闭)
           -10°C  50°C(14 至 122°F)  (未充电)

· 环境:适合室内与室外使用

· IP 等级 IP 54

· 污染等级 2

· 安装类别 2

 

Equotip Leeb 冲击装置

· 测量范围 1-999 HL

· 测量精度 ± 4 HL(800 HL 时为 0.5 %)

· 分辨率 1 HL;1 HV;1 HB;0.1 HRA;0.1 HRB;
           0.1 HRC;0.1 HS;1 MPa (N/mm2)

· 冲击方向 自动补偿(DL 探头除外)

· 冲击能量 

· D、DC、E、S 探头为 11.5 Nmm

· DL 探头为 11.1 Nmm

· 探头为 3.0 Nmm

· G 探头为 90.0 Nmm

冲击体质量 

· D、DC、E、S 探头为 5.45 克(0.2 盎司)

· DL 探头为 7.25 克(0.26 盎司)

· C 探头为 3.10 克(0.11 盎司)

· G 探头为 20.0 克(0.71 盎司)

球压头 

· C、D、DC 探头为碳化钨,直径 3.0 毫米(0.12 英寸)

· DL 探头为碳化钨,直径 2.78 毫米(0.11 英寸)

· 探头为碳化钨,直径 5.0 毫米(0.2 英寸)

· S 探头为陶瓷,直径 3.0 毫米(0.12 英寸)

· E 探头为多晶金刚石,直径3.0 毫米(0.12 英寸)

操作温度 –10?C 至 50?C(14  122°F)

 

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