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來自同步輻射源的寬帶x射線通量振興了相對較老的實(shí)驗(yàn)技術(shù)，即x射線吸收光譜法。X射線吸收光譜測量通過樣品的x射線光束的衰減，就像比較熟悉的紅外或紫外可見技術(shù)一樣。典型的x射線能量約為300~30 keV，而可見光為2-3 eV，紅外能量約為0.05-0.5eV。高能x射線吸收躍遷涉及到核心電子，它們只受到價(jià)電子化學(xué)變化的輕微干擾，因此每個元素都有特征吸收邊，x射線能量僅足以釋放特定類型的核心電子。

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