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产品简介
日本NIKON显微镜/观察设备P-EFL
落射荧光照明装置P-EFL
落射荧光照明装置P-EFL
详细介绍
日本NIKON显微镜/观察设备P-EFL
李工135----8371---7470
落射荧光照明装置P-EFL
提供各种使用透射和落射照明的观察设备。 它适用于使用常规照明方法难以观察的样品
最多可安装四个过滤器块。 使用复眼透镜，可以获得明亮的观察图像，直到视野的外围。
我 公 司 优 势 品 牌 和 产 品
品牌品名品牌品名
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美国3M荧光检测仪 3M住友砂纸 填充树脂日本昭和振动计 振动分析仪 振动传感器
| EM4600-S302 |
| DM43801 |
| 0194002 |
| 12AAE914 |
| NO.701 |
| MP-Σ30NⅡ |
| MP-Σ300NⅡ |
| DM43827 |
| E-9 3mm |
| CPP-45 1k +-0.3% |
| 542-171 |
| FW-A10H-1.0K |
| 04AZB513 |