TOP MINI便攜式X射線衍射儀

便攜性

無(wú)需樣品制備工藝，可直接對(duì)礦物進(jìn)行測(cè)量，同時(shí)也具有體積小、重量輕等特點(diǎn)，可以隨時(shí)隨地進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)分析，便于現(xiàn)場(chǎng)快速?zèng)Q策。

自研分析軟件

配套自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)XRD數(shù)據(jù)分析軟件包，可以完成物相鑒定及定量分析工作，可直接導(dǎo)入JADE。

快速在線分析

較高的信噪比，提高采樣效率，數(shù)據(jù)采集時(shí)間15~20 分鐘。(半導(dǎo)體樣品小于 5 分鐘)

良好的光路系統(tǒng)設(shè)計(jì)，物相定量分析達(dá)到臺(tái)式機(jī)的水平，檢出限大于 3wt.%，相對(duì)誤差優(yōu)于 10%

光源的穿透性高

Mo靶光源，能量更高，無(wú)需換靶即可完成絕大部分晶體測(cè)試，且可提高樣品的裝填厚度。

1、技術(shù)參數(shù)  技術(shù)參數(shù)

X光管靶材 Mo靶 額定功率 50 w (50kV, 1.0mA) 探測(cè)器 HPC二維探測(cè)器 探測(cè)器像素 1280*256 2θ 2.5~27.5° 角分辨率 0.25°(FWHM) 樣品量 約15mg 樣品顆粒 <120μm 樣品采集時(shí)間 600-1200s 外形尺寸 58cm×42cm×23cm（L*W*H） 凈重 20.0kg 工作環(huán)境挑戰(zhàn) 15~35℃ 散熱方式 自動(dòng)控溫風(fēng)冷裝置

3、技術(shù)優(yōu)勢(shì)

（1）靶材選用Mo靶（17.4keV），傳統(tǒng)的Cu靶(8.04keV)、Co靶(6.9keV)能量較 低，只適用于反射光路，對(duì)樣品架厚度及樣品裝填有較高要求，且當(dāng)樣品中含 有Fe時(shí)，Cu靶會(huì)產(chǎn)生熒光效應(yīng)，使結(jié)果失真。而TOPMINI采用透射光路，并配 備了0.3mm、0.5mm、0.8mm、2mm的不同厚度樣品架，且適用于所有常規(guī)粉末 樣品。

（2）準(zhǔn)直管中加入了聚光鏡技術(shù)，將信號(hào)光強(qiáng)提升了5~6倍，正常工作的20W 即約相當(dāng)于100W，并且提高了信噪比，使輸出譜圖更加準(zhǔn)確。

（3）數(shù)據(jù)采集時(shí)間僅需10~20分鐘（半導(dǎo)體材料僅需5分鐘），具體采集時(shí)間可 根據(jù)需求自由調(diào)整。

（4）物相定量分析結(jié)果達(dá)到臺(tái)式機(jī)的水平，檢出限大于 3 wt.%，相對(duì)誤差 優(yōu)于10%。 （5）本產(chǎn)品數(shù)據(jù)采集范圍2.5~27.5°，可換算為Cu靶的5.5~62.2°，優(yōu)于現(xiàn)在主流 的5~55°。本產(chǎn)品可根據(jù)客戶需求選擇加裝XRF功能或額外加載第二個(gè)XRD探測(cè) 器，若加載第二個(gè)XRD探測(cè)器，數(shù)據(jù)采集范圍可與大型XRD相當(dāng)，能完成結(jié)構(gòu) 精修要求。

（6）采用HPC二維探測(cè)器，探頭與控制器分離設(shè)計(jì)，兩者總重只有380克，且 兩者價(jià)格基本一致。一般情況下，探測(cè)器發(fā)生損壞時(shí)，很少是兩者同時(shí)損壞，因此HPC探測(cè)器損壞維修時(shí)所需費(fèi)用要遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于CCD探測(cè)器。

（7）強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析軟件包，配套了ICDD和COD兩套數(shù)據(jù)庫(kù)，可根據(jù)客戶習(xí) 慣自行選用，同時(shí)專門設(shè)計(jì)了常用礦物數(shù)據(jù)庫(kù)，以便一鍵得出錄井現(xiàn)場(chǎng)樣品層 段基本物相情況，可同時(shí)適用于實(shí)驗(yàn)室與錄井現(xiàn)場(chǎng)的工作條件。同時(shí)，本產(chǎn)品 數(shù)據(jù)皆為較為通用的格式，客戶可根據(jù)自己的要求選用習(xí)慣的分析軟件。

（8）整機(jī)手提箱大小，無(wú)任何運(yùn)動(dòng)部件，無(wú)需定期標(biāo)定，結(jié)構(gòu)牢固可靠，可適 應(yīng)條件溫度內(nèi)的任何工作環(huán)境

野外便攜式XRD射線衍射儀