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[供應]德國KRACHT克拉克流量計
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  • 德國KRACHT克拉克流量計
貨物所在地:
上海上海市
更新時間:
2022-07-12 12:35:58
有效期:
2022年7月12日 -- 2023年7月13日
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德國KRACHT克拉克流量計
KRACHT克拉克流量計、KRACHT克拉克 HYDAC壓力傳感器、HYDAC繼電器 日本基恩士KEYENCE ,中國臺灣明緯Meanwell ,日本神視SUNX,德國費斯托FESTO ,日本安川yaskawa 等等!

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德國KRACHT克拉克流量計

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克拉克有限公司公司從事可靠性測試設備的銷售和測試服務。 一、金屬鑄件,巖石,橡膠輪胎等檢測: 工業(yè)CT,計算機斷層掃描,X射線實時成像檢測系統(tǒng),X光機,透視機。( 工業(yè)CT高精度計算機斷層掃描系統(tǒng)鑄件密度分割容積計算空間分布 ) 二、 耗材: 磁粉探傷,滲透探傷 磁粉探傷:磁粉對導磁材料鋼,鐵,鈷,鎳等,材料表面微小裂紋的檢測。 如,發(fā)動機,軸承,鋼管的表面裂紋的快速檢測。 滲透探傷包括熒光法和著色法。熒光法是將含有熒光物質的滲透液涂敷在被探傷件表面,通過毛細作用滲入表面缺陷中,然后清洗去表面的滲透液,將缺陷中的滲透液保留下來,進行顯象。典型的顯象方法是將均勻的白色粉末撒在被探傷件表面,將滲透液從缺陷處吸出并擴展到表面。這時,在暗處用紫外線燈照射表面,缺陷處發(fā)出明亮的熒光。 著色法與熒光法相似,只是滲透液內不含熒光物質,而含著色染料,使?jié)B透液鮮明可見,可在白光或日光下檢查。 三、電子行業(yè)的失效分析設備銷售及測試服務 芯片分析手段匯總(微焦點xray,csam;DECAP) 芯片分析手段有:1 C-SAM(超聲掃描),無損檢查:1.材料內部的晶格結構,雜質顆粒.夾雜物.沉淀物.2. 內部裂紋. 3.分層缺陷.4.空洞,氣泡,空隙等. 2 微焦點XRay 用途:半導體BGA,線路板等內部位移的分析 ;利于判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷  ?。豏AY:微焦點X射線可以穿過塑封料并對包封內部的金屬部件成像,因此,它特別適用于評價由流動誘導應力引起的引線變形 在電路測試中,引線斷裂的結果是開路,而引線交叉或引線壓在芯片焊盤的邊緣上或芯片的金屬布線上,則表現(xiàn)為短路。X射線分析也評估氣泡的產生和位置,塑封料中那些直徑大于1毫米的大空洞,很容易探測到. ), 德國Feinfocus 3 SEM掃描電鏡/EDX能量彌散X光儀(材料結構分析/缺陷觀察,元素組成常規(guī)微區(qū)分析,精確測量元器件尺寸), 日本電子 4 EMMI微光顯微鏡/OBIRCH鐳射光束誘發(fā)阻抗值變化測試/LC 液晶熱點偵測(這三者屬于常用漏電流路徑分析手段,尋找發(fā)熱點,LC要借助探針臺,示波器), 5 FIB做一些電路修改; 6 Probe Station 探針臺/Probing Test 探針測試,ESD/Latch-up靜電放電/閂鎖效用測試(有些客戶是在芯片流入客戶端之前就進行這兩項可靠度測試,有些客戶是失效發(fā)生后才想到要篩取良片送驗)這些已經提到了多數(shù)常用手段。失效分析前還有一些必要的樣品處理過程,取die,decap(開封,開帽),研磨,去金球 De-gold bump,去層,染色等,有些也需要相應的儀器機臺,SEM可以查看die表面,SAM以及X-Ray觀察封裝內部情況以及分層失效。 歡迎索取資料哦。四海內皆朋友除了常用手段之外還有其他一些失效分析手段,原子力顯微鏡AFM ,二次離子質譜 SIMS,飛行時間質譜TOF - SIMS ,透射電鏡TEM , 場發(fā)射電鏡,場發(fā)射掃描俄歇探針, X 光電子能譜XPS ,L-I-V測試系統(tǒng),能量損失 X 光微區(qū)分析系統(tǒng)等很多手段,不過這些項目不是很常用。 FA步驟: 1 一般先做外觀檢查,看看有沒有crack,burnt mark 什么的,拍照; 2 非破壞性分析:主要是超聲波掃描顯微鏡(C-SAM)--看有沒delamination,xray--看內部結構,等等; 3 電測:主要工具,萬用表,示波器,sony tek370a,現(xiàn)在好象是370b了; 4 破壞性分析:機械decap,化學 decap 芯片開封機 微焦點Xray用途:半導體BGA,線路板等內部位移的分析 ;利于判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷. 參數(shù):標準檢測分辨率<500納米 ; 幾何放大倍數(shù): 2000 倍 大放大倍數(shù): 10000倍 ; 輻射小: 每小時低于1 μSv ; 電壓: 160 KV, 開放式射線管設計防碰撞設計;BGA和SMT(QFP)自動分析軟件,空隙計算軟件,通用缺陷自動識別軟件和視頻記錄。這些特點非常適合進行各種二維檢測和三維微焦點計算機斷層掃描(μCT)應用。 芯片開封機DECAP 主要用于芯片開封驗證SAM,XRAY的結果。 DECAP有化學開封和激光開封,兩者區(qū)別在于激光開封可以開封銅線,但后者價格貴些 工業(yè)CT高精度計算機斷層掃描系統(tǒng)鑄件密度分割容積計算空間分布三維重構主要特點: 工業(yè)CT是采用機算計斷層掃描技術對產品進行無損檢測(NDT)和無損評價(NDE)手段,ICT技術能準確地再現(xiàn)物體內部的三維立體結構,能夠定量地提供物體內部的物理、力學等特性,如缺陷的位置及尺寸、密度的變化及水平、異型結構的型狀及精確尺寸,物體內部的雜質及分布等。 X射線實時成像檢測系統(tǒng)檢測金屬鑄件橡膠輪胎內部分層裂紋 X射線實時成像檢測系統(tǒng): 主要應用領域,金屬鑄件,塑料橡膠等。本系列產品對于不同形狀和大小,鋼、鋁、陶瓷、復合材料或橡膠等不同材料的工件均可提供高質量的實時監(jiān)測內部裂紋、分層等。

更多產品詳見:德國儀器Testo進口分析儀

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