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產(chǎn)品簡介
薄膜納米厚度測量儀自動(dòng)化薄膜厚度分布圖案系統(tǒng)依靠F54良好的光譜測量系統(tǒng)，可以很簡單快速地獲得大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái)，可以非常快速的定位所需測試的點(diǎn)并測試厚度，測試非?？焖?，大約每秒能測試兩點(diǎn)。系統(tǒng)中預(yù)設(shè)了許多極坐標(biāo)形、方形和線性的圖形模式，也可以編輯自己需要的測試點(diǎn)。只需掌握基本電腦技術(shù)便可在幾分鐘內(nèi)建立自己需要的圖形模式?？蓽y樣品膜層基本上所有光滑的
詳細(xì)介紹
薄膜納米厚度測量儀
自動(dòng)化薄膜厚度分布圖案系統(tǒng)
依靠F54良好的光譜測量系統(tǒng)，可以很簡單快速地獲得大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái)，可以非?？焖俚亩ㄎ凰铚y試的點(diǎn)并測試厚度，測試非?？焖?，大約每秒能測試兩點(diǎn)。系統(tǒng)中預(yù)設(shè)了許多極坐標(biāo)形、方形和線性的圖形模式，也可以編輯自己需要的測試點(diǎn)。只需掌握基本電腦技術(shù)便可在幾分鐘內(nèi)建立自己需要的圖形模式。
可測樣品膜層
基本上所有光滑的。非金屬的薄膜都可以測量?？蓽y樣品包括：
氧化硅 | 氮化硅 | 類金剛石DLC |
光刻膠 | 聚合物 | 聚亞酰胺 |
多晶硅 | 非晶硅 | 硅 |
薄膜納米厚度測量儀
相關(guān)應(yīng)用
半導(dǎo)體制造
• 光刻膠• 氧化物/氮化物/SOI• 晶圓研磨減薄/封裝
液晶顯示器
• 盒厚• 聚酰亞胺• ITO
光學(xué)鍍膜
• 硬涂層• 抗反射涂層• 濾光片
微電子
• 光刻膠• 硅膜• 氧化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡
