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復(fù)合鍍層用X熒光鍍層測(cè)厚儀，Ux-720 精密鍍層分析儀是一款無(wú)需標(biāo)樣即可對(duì)金屬鍍層厚度、基材及電鍍層成分分析的高性?xún)r(jià)比機(jī)型，軟件*的開(kāi)放式工作曲線(xiàn)功能，方便用戶(hù)無(wú)需自購(gòu)標(biāo)樣建立所需測(cè)試工作區(qū)，特別適用于企業(yè)電鍍層種類(lèi)多、鍍多層及復(fù)合鍍層的制程管控。
詳細(xì)介紹
復(fù)合鍍層用X熒光鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域
用于電子電器、汽車(chē)電子、五金電氣、緊固件以及貴金屬行業(yè)金屬鍍層厚度以及材料成分分析；
用于鋁合金、塑料等輕、非金屬基材表面金屬鍍層厚度檢測(cè)；
用于磁鋼鍍NiCuNi、不銹鋼鍍Ni/Cr等重復(fù)鍍層分層厚度及成分檢測(cè)；
用于達(dá)克羅涂覆層、太陽(yáng)能薄膜電池涂層分層厚度及成分檢測(cè)；
復(fù)合鍍層用X熒光鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)
快速、無(wú)損分析
通過(guò)X射線(xiàn)無(wú)損激發(fā)被測(cè)物元素，經(jīng)探測(cè)器（Si-PIN）采集其熒光強(qiáng)度，軟件只需數(shù)秒即可得到精準(zhǔn)鍍層厚度和成分
復(fù)合鍍層用X熒光鍍層測(cè)厚儀
開(kāi)放式工作曲線(xiàn)、無(wú)需標(biāo)樣建立曲線(xiàn)
軟件使用基本參數(shù)法（FP法），后臺(tái)功能權(quán)限開(kāi)放給客戶(hù)，用戶(hù)可根據(jù)測(cè)試需求無(wú)需標(biāo)樣輕松自建測(cè)試工作區(qū)，無(wú)購(gòu)買(mǎi)標(biāo)樣及后續(xù)增加工作區(qū)成本
