器件級(jí)靜電放電解決方案: TLP傳輸線脈沖測(cè)試系統(tǒng) ESD測(cè)試儀(HBM、HMM、MM) ESD靜電和閂鎖測(cè)試系統(tǒng) CDM充電器件模型測(cè)試機(jī) LVS低壓浪涌系統(tǒng) 傳輸線脈沖發(fā)生器過電應(yīng)力模擬發(fā)生器 ES631-以太網(wǎng)線纜放電（CDE）測(cè)評(píng)系統(tǒng)

半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用及對(duì)應(yīng)優(yōu)勢(shì)

時(shí)間：2024/7/10閱讀：704

半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是一款配置靈活的半導(dǎo)體器件電學(xué)特性分析設(shè)備，在一個(gè)系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)了電流電壓 (IV) 測(cè)試、電容電壓 (CV) 測(cè)試、脈沖式IV測(cè)試、任意線性波形發(fā)生與測(cè)量、高速時(shí)域信號(hào)釆集以及低頻噪聲測(cè)試能力。幾乎所有半導(dǎo)體器件的低頻特性表征都可以在FS-Pro測(cè)試系統(tǒng)中完成。

產(chǎn)品應(yīng)用：

新型材料與器件測(cè)試

半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試

半導(dǎo)體器件超短脈沖測(cè)試

半導(dǎo)體器件無損探傷與測(cè)試

光電器件和微電子機(jī)械系統(tǒng)測(cè)試

半導(dǎo)體器件超低頻噪聲領(lǐng)域測(cè)試

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

一體化設(shè)備：

單機(jī)可采集高精度IV、CV、脈沖IV和瞬態(tài)IV采樣及1/f噪聲測(cè)試所有參數(shù)。

無需切換電纜或探頭連接即可提供完整的低頻參數(shù)提取功能。

寬電壓電流輸出范圍、高精度：

支持高速采樣時(shí)域信號(hào)采集和任意線性波形生成模塊化架構(gòu)。

支持靈活、可擴(kuò)展的測(cè)試配置。

簡(jiǎn)單易用：

內(nèi)置專業(yè)LabExpress軟件，用戶界面友好。

測(cè)量、分析功能強(qiáng)大。

無需復(fù)雜編程步驟即可同步產(chǎn)生電壓并跟蹤波形。

可用作9812DX內(nèi)部SMU模塊：

無縫集成9812D/DX系統(tǒng)及其NoiseProPlus軟件，可提高噪聲測(cè)試速度。

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半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用及對(duì)應(yīng)優(yōu)勢(shì)

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