電氣強(qiáng)度測(cè)試（electric strength test）又稱耐壓測(cè)試。簡(jiǎn)單點(diǎn)說(shuō)，任何絕緣材料都有一個(gè)絕緣強(qiáng)度，不同額定電壓的絕緣強(qiáng)度不一樣。當(dāng)超過(guò)一定電壓等級(jí)后，材料的絕緣就會(huì)被擊穿。電氣強(qiáng)度測(cè)試就是看在給被測(cè)材料加一定的高電壓（可以參考IEC標(biāo)準(zhǔn)或者國(guó)標(biāo)），看是否會(huì)導(dǎo)致?lián)舸Ｈ绻粨舸瑒t通過(guò)，擊穿則說(shuō)明不合格。該試驗(yàn)是破壞性試驗(yàn)，一旦擊穿，不可修復(fù)。
采用：縱橫金鼎儀器LJC系列
原理
在圓形試片上施加工頻電壓，逐漸升高電壓直至擊穿，有兩種方法：
方法A：將直接燒成的或加工成的薄圓片試樣放在兩鋼制或銅制球間，在兩球上施加電壓。
方法B：用一邊有半圓球凹坑（壓制或加工）的圓片試樣（如圖1所示），將一鋼制或銅制球放入凹坑，另一面放在平板電極上，在兩電極間施加電壓。
注1：這兩種方法的測(cè)試結(jié)果不一致。方法B測(cè)得的結(jié)果可能較為分散，這種分散性取決于試樣成型的方法。應(yīng)優(yōu)選方法A。兩種方法的測(cè)試結(jié)果都與制造方法有關(guān)。
注2：擊穿電壓與材料擊穿點(diǎn)的孔隙性有很大關(guān)系，影響電性能的孔隙和其他顯微結(jié)構(gòu)因素與制造方法有關(guān)。
圖1 電氣強(qiáng)度和耐受電壓（試驗(yàn)方法B）試樣
試驗(yàn)設(shè)備 LJC系列
所用電氣測(cè)試設(shè)備應(yīng)滿足GB/T 1408.1--1999的要求，方法A的常用布置如圖2所示，其他設(shè)備包括：
a）一臺(tái)能在120 ℃±5℃保溫的烘箱;
b）一個(gè)干燥器;
c）符合GB/T 1216—2004的千分尺，方法A用平頭測(cè)砧，方法B用圓頭測(cè)砧。
圖2 電氣強(qiáng)度測(cè)定方法A的試樣
試樣
至少測(cè)定10個(gè)試樣。
方法A：圓片直徑80 mm，厚度2.5 mm±0.5 mm，兩面平行度±0.05 mm。
方法B：圓片尺寸如下表所示，圓片的一面有一半圓球形凹坑（如圖1所示），凹坑的表面和相對(duì)的平面上應(yīng)涂導(dǎo)電涂層。
方法B的試樣尺寸（參照?qǐng)D1）
測(cè)量方法
按下述方法測(cè)量試樣的厚度：在方法A中用帶平頭砧的千分尺在盡可能接近預(yù)計(jì)擊穿點(diǎn)處測(cè)量試樣的厚度，精確到±0.02 mm;在方法B中，用帶球頭砧的千分尺測(cè)量球形凹坑中心處的厚度，精確到±0.02 mm。
試樣在120 ℃±5℃的烘箱中保溫2 h，并在干燥器中冷卻。測(cè)量在15℃~35 ℃環(huán)境下進(jìn)行。將試樣放在測(cè)試裝置上，并浸入合適的介電介質(zhì)中，介質(zhì)的電阻率應(yīng)足夠大，以使測(cè)試能順利完成。介質(zhì)的電阻率應(yīng)在試驗(yàn)報(bào)告中標(biāo)明。
快速升壓至預(yù)計(jì)擊穿電壓的一半左右，然后以一定的速度升壓，以保證試樣在從加壓開始算起的10 s~20 s內(nèi)擊穿，記錄擊穿電壓。在測(cè)完要求的蕞低試樣數(shù)量后，如果擊穿的平均升壓時(shí)間在要求的范圍內(nèi)，即使某些試樣的擊穿時(shí)間超出了范圍，結(jié)果也符合要求。
結(jié)果計(jì)算
不同厚度試樣的k值
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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