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原子力顯微鏡儀器組成
原子力顯微鏡可以高分辨表征各種樣品的表面形貌，可以分析與作用力相對應的各種表面性質(zhì)，另外利用針尖可以操縱原子和進行納米加工。
儀器組成：
1. NanoscopeIIIa控制器一臺
2. Quadrex Box一臺
3. Pico-force控制器一臺
4. VT50防震臺一個
5. Veeco光學成像系統(tǒng)一套
具有極其優(yōu)異的性能，同時采用了先進的專門用于相互作用力測量的Pico-force系統(tǒng)，進一步擴展了原子力顯微鏡的使用范圍。
原子力顯微鏡技術參數(shù)
◆ 基本工作模式：輕敲模式、RMS-Z曲線測量
◆ 選配工作模式：接觸模式、F-Z力曲線測量、摩擦力/側(cè)向力、振幅/相位、磁力和靜電力
◆ 樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm
◆ 掃描范圍：XY向20um，Z向2um
◆ 掃描分辨率：XY向0.2nm，Z向0.05nm
◆ 樣品移動范圍：0~13mm
◆ 光學放大倍數(shù)4X，光學分辨率2.5um
◆ 掃描速率0.6Hz~4.34Hz，掃描角度0~360°
◆ 掃描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A
◆ 數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
◆ 反饋方式：DSP數(shù)字反饋
◆ 反饋采樣速率：64.0KHz
◆ 通信接口：USB2.0/3.0
◆ 運行環(huán)境：WindowsXP/7/8/10操作系統(tǒng)
儀器組成：
1. NanoscopeIIIa控制器一臺
2. Quadrex Box一臺
3. Pico-force控制器一臺
4. VT50防震臺一個
5. Veeco光學成像系統(tǒng)一套
具有極其優(yōu)異的性能，同時采用了先進的專門用于相互作用力測量的Pico-force系統(tǒng)，進一步擴展了原子力顯微鏡的使用范圍。
原子力顯微鏡技術參數(shù)
◆ 基本工作模式：輕敲模式、RMS-Z曲線測量
◆ 選配工作模式：接觸模式、F-Z力曲線測量、摩擦力/側(cè)向力、振幅/相位、磁力和靜電力
◆ 樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm
◆ 掃描范圍：XY向20um，Z向2um
◆ 掃描分辨率：XY向0.2nm，Z向0.05nm
◆ 樣品移動范圍：0~13mm
◆ 光學放大倍數(shù)4X，光學分辨率2.5um
◆ 掃描速率0.6Hz~4.34Hz，掃描角度0~360°
◆ 掃描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A
◆ 數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
◆ 反饋方式：DSP數(shù)字反饋
◆ 反饋采樣速率：64.0KHz
◆ 通信接口：USB2.0/3.0
◆ 運行環(huán)境：WindowsXP/7/8/10操作系統(tǒng)