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產(chǎn)品簡介
余弦校正輻射探頭是一種用于光譜輻射測量的光學(xué)元件，用于收集180°立體角內(nèi)的輻射光信號，從而消除了其它取樣裝置中光線收集裝置幾何結(jié)構(gòu)中的光學(xué)接口問題。
詳細(xì)介紹
余弦校正輻射探頭是一種用于光譜輻射測量的光學(xué)元件，用于收集180°立體角內(nèi)的輻射光信號，從而消除了其它取樣裝置中光線收集裝置幾何結(jié)構(gòu)中的光學(xué)接口問題。
LS-CC余弦校正輻射探頭采用反射率＞98%spectralon漫反射射材料，實現(xiàn)200-2500nm輻射光譜測量。我們提供兩種余弦校正輻射探頭一種是通過SMA接頭光纖連接光譜儀，另外一種是直接耦合到光譜儀的SMA接口上。萊森光學(xué)的余弦校準(zhǔn)輻射探頭與光譜儀配合使用時，可以用來測量UV-A和UV-B太陽輻射、環(huán)境光、燈光和其它發(fā)光光源。
主要技術(shù)參數(shù)
型號 | LS-CC-UV/NIR/ LS-CC-UV/nir |
漫散材料 | Spectralon（200-2500 nm），反射率＞98% |
直徑 | 3.9mm-10mm |
接收角度 | 接收來自180°立體角的光 |
接頭 | SMA 905 |