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VCSEL測試技術(shù)有什么作用？
閱讀：625 發(fā)布時間：2020-4-28
VCSEL測試技術(shù)是人臉映射、手勢識別、近距離傳感和光通信等應(yīng)用中的關(guān)鍵技術(shù)之一。除了其突出的性能特點外，結(jié)構(gòu)本身的性質(zhì)使其能夠在制造的各個階段進行測試，提高生產(chǎn)產(chǎn)量，提高產(chǎn)品性能和降低成本。
VCSEL技術(shù)目前在人臉識別、3D感測、汽車自動駕駛、手勢偵測和VR（虛擬現(xiàn)實）/AR（增強現(xiàn)實）/MR（混合現(xiàn)實）等應(yīng)用領(lǐng)域越來越受到關(guān)注，實現(xiàn)對VCSEL單體、模組、及晶圓芯片的能量分布和均勻性測量、光譜波長及功率測量、近場遠場測量等各種定制化應(yīng)用需求。
VCSEL測試系統(tǒng)使用Spectralon、Permaflect或Spectraflect積分球?qū)ζ骷l(fā)光進行收集。該材料對紫外-可見-紅外范圍內(nèi)的光都具有*的光譜反射率，可分別滿足研發(fā)端和產(chǎn)線段對高低溫度測試和產(chǎn)線端設(shè)備免維護性的要求。此外，通過選擇不同尺寸的積分球，可以滿足從毫瓦到千瓦量級的激光功率測試。
用戶可根據(jù)需要選擇不同尺寸和功率的溫度控制器，并將待測器件置于溫度控制器上以保證待測器件工作在理想的溫度。系統(tǒng)搭配的高速探測器可精準(zhǔn)并快速的采集發(fā)出的脈沖光，并依據(jù)用戶設(shè)置的測試方法完成完整的LIVT測試。
VCSEL的輸出功率也可以通過尺寸線性擴展。每個激光出光孔是獨立且基本相同的。芯片上的孔徑越多，輸出的能量就越大，將它們?nèi)窟B接到單個電源就可以使它們一起發(fā)射。將芯片布線不同的區(qū)域，可以使它們在不同的時間以不同的圖案發(fā)射，其功率輸出由出光孔的數(shù)量確定。