| 产地类别 |
国产 |
应用领域 |
能源,电子/电池,道路/轨道/船舶,汽车及零部件,电气 |
| 测量精度 |
0～50μm：±1μm |
H15324 型涡流测厚仪 是DP-ED300型测厚仪的改进型，仪器性能大幅度提高。
仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝工件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，以及其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。
涡流测厚仪 型号:H15324
H15324 型涡流测厚仪 是DP-ED300型测厚仪的改进型，仪器性能大幅度提高。
仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝工件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，以及其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。
仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查， 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。
仪器符合国家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。
仪器特点
H15324 型与型相比，具有如下特点：
＊量程宽 H15324 型的量程达到0～500μm。
＊精度高 H15324 型的测量精度达到2%。
＊分辨率高 H15324 型的分辨率达到0.1μm。
＊校正简便 只校正“0"和“50μm"两点，即可在全量程范围内保证设计精度。
＊基体导电率影响小 基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量
误差不大于1～2μm。
＊可靠性提高 采用高集成度、高稳定性电子器件，电路结构优化，仪器可靠性
提高。
＊稳定性提高 采用先进的温度补偿技术，测量值随环境温度的变化很小。仪器
校正一次可在生产现场长期使用。
＊探头线寿命长 采用德国进口的，在德国测厚仪上使用的探头线，探头线寿命
可大大延长。
＊探头芯寿命长 采用高强度磁芯材料，微调了探头设计，探头芯寿命可大大延
长。
＊探头可互换 外接式探头，探头损坏后，使用者可自行更换备用探头。仪器无
需返厂维修。
测量范围： 0～500μm
测量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分 辨 率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可选）
使用温度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
2.引力常量实验仪 常量实验仪 型号：H15322
根据卡文迪许的扭称实验结构进行改进、小型化的仪器。用于演示观察物体之间存在相互作用力的现象，测量万有引力恒量G。
仪器参数：
可定性演示验证万有引力的存在，可定量测量引力常量G值，实验相对误差﹤5%。
3.可调电热板 型号：H15320
产品介绍：
用途概述：
适用于实验室、工矿企业、科研单位加热之用。
产品特点：
1、均采用封闭式加热,加热无明火。
2、采用可控硅无级调功，适用于不同加热温度。
3、外壳采用静电喷涂工艺，涂层牢固、美观。
4.光纤光栅传感实验仪 传感实验仪 实验仪 型号：H15313
光纤光栅传感实验仪包括光纤光栅测试单元和光纤光栅传感单元，并配有专用测试软件，计算机RS232接口。手动波长扫描，手工或计算机绘制光纤传感波形、波长峰值移动
量测量，进而测量出光纤光栅两大基本传感参量-温度及应变。本实验仪中，掺Er光纤ASE宽待光源和放大器可以独立使用。
主要特点：
美国进口掺Er光纤ASE宽带光源
波长范围：1525-1565nm(C波段)宽带光源和放大器可独立使用。
性能指标：
波长扫描方式：手动 记录方式：手动、自动 应变传感分辨率：<10με，范围：0~5000με
温度传感分辨率：<1℃，范围：室温~70℃
成套性：光纤光栅测试单元、光纤光栅传感单元
5.棉花水分仪 型号：H15312
测定原理：引进日本先进技术，采用高周波原理制成。根据被测物不同，设有多种测量转换开关。具有测量水分范围宽、精度高、体积小、重量轻、操作简便等特点，可在现场快速测定被测物水分。该仪器适用于测量棉花等水分。
★技术性能：
u测量水分范围：0~80%
u精 度：0%~10% 精度：±0.2%
10%~40% 精度：±0.5%
40%~80% 精度：±1%
u显示时间：1秒
u显 示：3?位LCD液晶数字显示
u探针长度：200mm
u温度补偿：-10℃~+100℃
u电 源：9V（6F22型）积层电池
u体 积：160mm×60mm×27mm
u重 量：200克
以上参数资料与图片相对应
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