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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
沖擊試樣缺口投影儀用途
隨著工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始招待夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)方法，目前國內(nèi)諸如鍋爐壓力容器、冶金和機(jī)械等行業(yè)已普遍采用夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)取代使用了幾十年的梅式U型缺口沖擊試驗(yàn)。
對(duì)于夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)，由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格（試樣缺口深2mm，呈45度角且試樣缺口要求（R0.25 ±0.025mm）,故在整個(gè)試驗(yàn)的過程中，試樣的V型缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗(yàn)的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口的微小變化（其公差帶只有0.25mm）,都會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果的陡跳，尤其是在試驗(yàn)的臨界值時(shí)會(huì)引起產(chǎn)品或報(bào)廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為了保證加工出的夏比V型缺口合格，缺口的加工質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的質(zhì)量控制手段。目前用光學(xué)投影儀放大檢查是切實(shí)可行并能保證檢驗(yàn)質(zhì)量的方法。
JC506-ST30型缺口投影儀是我公司根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-94《金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口和標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對(duì)比，以確定被測的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便，檢查對(duì)比直觀，效率高。
本投影儀是廣大冶金、鍋爐壓力容器、車船、工程機(jī)械以及科研等部門理化實(shí)驗(yàn)室的設(shè)備。本儀器還可用于機(jī)械零部件的外形輪廓、訪織物纖維、生物切片分析、工量刃具的檢驗(yàn)、儀表元件和半導(dǎo)體元件的投影檢測。
沖擊試樣缺口投影儀主要參數(shù)
1.投影屏直徑 180毫米
2.工作臺(tái)
方工作臺(tái)尺寸 110×125毫米
圓工作臺(tái)尺寸 90毫米
工作臺(tái)玻璃直徑 70毫米
3.工作臺(tái)行程
縱向 ±10毫米
橫向 ±10毫米
升降 ±12毫米（無刻度）
圓工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍 0～360°（無刻度）
4.儀器放大倍率 50×
物鏡放大倍率 2.5×
投影物鏡放大倍率 20×
物方視場直徑 3.8毫米
工作距離 22.89毫米
5.光源 （鹵鎢燈）12V 100W
6.外型尺寸[長×寬×高] 515×224×603毫米
7.重量[凈重] 約18KG
工作原理
本投影儀發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物，再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射在投影屏幕上。
根據(jù)實(shí)際需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺(tái)上，再通過一系列光學(xué)元件將被測試樣缺口輪廓清晰的投射到投影屏上。物體經(jīng)二次放大和二次發(fā)射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實(shí)際試樣放置的方向是*的。