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DB233z CLR 組件測試儀

DB23X系列

 DB230 CLR元件測試儀

 DB232 CLR 元件測試儀

 DB233z CLR 組件測試儀

 DB236大電容測試儀

概述
電容器的交流測量

用于精確測量電容、電感和電阻參數(shù)的 Danbridge 儀器套件包括供實驗室使用的獨立測量電橋以及用于在工業(yè)環(huán)境中快速測量大量元件的自動系統(tǒng)。

主要應(yīng)用：

在自動分選機中快速、精確地測試電容器。

薄膜/箔電容器測試：

薄膜/箔電容器測試通常通過 1kHz 電容測試和 100kHz tan ? 或 ESR 測試進行。雙頻測試是一個功能，可以在不到 50 毫秒的時間內(nèi)完成，并將分選輸出發(fā)送到分選機中的箱式分選裝置。

測試薄膜/箔電容器時，我們建議使用電容測試儀 DB232。該儀器或早期的 CT30 或多或少是薄膜/箔電容器自動測試的工業(yè)標準，并被全球大多數(shù)最大的薄膜/箔電容器制造商所使用。

對于電容器的絕緣測試，請注意，快速兆歐表 DB622 是 DB232（或舊 CT30）的匹配。借助預充電和精細充電高壓電源以及多個充電站，丹橋兆歐表可以確保高速測試。

如果您使用舊的 Danbridge 電容器測試儀（例如 CT20 和 CT30），DB232 是替換它們的合理選擇。特別是DB232內(nèi)置CT30模式，可以快速、簡單地更換舊的CT20和CT30元件測試儀。 
請注意，舊的 CT20 和 CT30 組件測試儀不再受支持。然而，通過將舊的 Danbridge 設(shè)備更換為新設(shè)備，我們可以為您提供舊儀器的回購價格以及類似新設(shè)備的靈活付款或租賃。

鉭電容的測試：

鉭電容器或大型薄膜/箔電容器通常使用高電容測試儀 DB236 進行測試。該儀器除了具有 DB232 的功能外，還可以進行阻抗測試，例如 @ 10kHz 或 100kHz。

陶瓷電容器的測試：

陶瓷電容器根據(jù)電容值需要以1kHz或1MHz進行測試。電容測試儀 DB230 在 1kHz 時表現(xiàn)出出色的性能，是市場上最快的電容測試儀之一，測試速度在 1MHz 時低至 6ms，包括排序輸出。
因此，DB230 非常適合利用當今 SMT 分選機的高速特性，從而通過為您提供高品質(zhì)電容器的高產(chǎn)量來確保高投資回報。

其他 CLR 應(yīng)用程序的示例：

電容器的一般測試、變壓器和線圈的測量、DB233z“取放"機器中的無源元件測試、電纜測試、電容式麥克風測試以及繞線功率電阻器中的電阻和電感。

關(guān)鍵特點

測量頻率：100kHz、10kHz、1kHz 和 100Hz
總體精度優(yōu)于 0.05%，損耗因數(shù)優(yōu)于2 x 10 -4
外部橋接模塊，用于儀器和橋接模塊之間的長電纜（3m 或 118 英寸）
測量電纜：1m 或 39.3 英寸（標配）
輸入保護可防止 2 焦耳至 1kV 的充電電容器。此功能可以通過可選的保護盒 PB11 進行擴展
內(nèi)置接觸檢查功能確保與設(shè)備的接觸良好，額外2-6 ms0
高測量速度：從觸發(fā)到測量結(jié)束20至180ms
測量范圍：0.1pF 至 3mF，具體取決于頻率
100kHz 時測量高達 9μF (0.2%)
內(nèi)部偏置電壓：發(fā)電機端子上高達 ±3V DC，以 0.1V 步長設(shè)置
外部偏置電壓：高達 ±48V DC 平均值：1 至 99 次測量
顯示讀數(shù)：直接或偏差電容以及損耗測量的 tan ? 或 ESR 以及 L/Q、Rs、Rp、Z

技術(shù)規(guī)格

 DB210 CLR 橋 *已停產(chǎn)

 DB230 CLR元件測試儀

 DB232 CLR 元件測試儀

 DB233z CLR 組件測試儀

 DB236大電容測試儀

應(yīng)用查找器
測試應(yīng)用：	DB210   *已停產(chǎn)	DB230	DB232	DB233z	DB236	DB250系統(tǒng)
自動高速測試
自動且具有成本效益
交流電容器
直流電容器
陶瓷電容器
電機電容器
鉭電容器
貼片機驗證器
掃描儀或多次測試 - 2 x 20 夾具
實驗室測試