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 XRF鍍層測厚儀Thick800A 超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面
*易于使用，一鍵操作，即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結果
*有助于識別鍍層成分的創(chuàng)新型功能
*機身結構小巧結實，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室

*按下按鈕的數秒之內，即可得到有關樣件鍍層厚度的結果
*使用PC機和軟件，可以迅速方便地制作樣件的檢驗結果
*用戶通過攝像頭及艙內照明系統(tǒng)，可看到樣件測試位置，提升了用戶測試信心
*Thick系列分析儀測試數據可以和上傳網絡，檢測結果易于查看和分享
*有X射線防護鎖，只有在封閉狀態(tài)下才發(fā)射X射線，安全、可靠的客戶使用Thick800A性能特點

 XRF鍍層測厚儀Thick800A滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護

Thick800A技術指標

型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

Thick800A工作原理
物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以 熒光或光的形態(tài)被釋放出來。x射線鍍層測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。
Thick800A標準配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
XRF鍍測厚儀Thick800A是一款功能強大的電鍍層厚度分析儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手，檢測電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,Thick800AXRF鍍層測量儀是天瑞集多年的經驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款測量儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。