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材料無(wú)鹵ROHS檢測(cè)儀_江蘇天瑞儀器股份有限公司

目前對(duì)于不同的電子材料，元件，板材等，業(yè)界主要還是各家公司自己的具體要求來(lái)執(zhí)行?，F(xiàn)在有兩種講法對(duì)于無(wú)鹵素，1.BSEN14582測(cè)試方法，這種根本測(cè)不出（<50ppm）的CI,Br；2. CI,Br含量各低于900ppm,總含量低于1500ppm。但JPCA沒(méi)有對(duì)總含量定義。有些公司定義的測(cè)試方法及測(cè)試樣品的選取都有不同，樣品數(shù)量太少的話，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果會(huì)有很大偏差。也有分產(chǎn)品中含有的鹵素是刻意添加（配方中的成分）及非刻意添加（雜質(zhì)）？這些具體的要求，目前法規(guī)還沒(méi)有明確定義，都是由各個(gè)廠家自己要求確定。

材料無(wú)鹵ROHS檢測(cè)儀各標(biāo)準(zhǔn)組織的測(cè)試方法如下，
BSEN14582 分方法A 氧彈燃燒法Oxygen Bomb combustion + 離子層析法（Ion chromatography） 方法B 氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法（Ion chromatography） 
JPCA-ES-01-2003 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法（Ion chromatography） 
IEC61189-2 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法（Ion chromatography） 
IPC-TM-650 方法 2.3.41 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法（Ion chromatography）
傳統(tǒng)只是對(duì)鹵化物有定義要求，采用鉻酸銀試紙，氟點(diǎn)測(cè)試等方法檢測(cè)只是對(duì)鹵化物的離子進(jìn)行定性的測(cè)試方法，如果要定量的話還得用離子層析法（Ion chromatography）。
無(wú)鹵素與無(wú)鹵化物不是一個(gè)概念，鹵化物是以游離的鹵素離子存在，而鹵素則可以共價(jià)的方式形成含有鹵素的化合物，并且用離子層析法（Ion chromatography）是測(cè)不到游離的鹵素離子存在的。所以，目前的鹵素測(cè)試方法用氧彈燃燒法Oxygen Bomb combustion 或氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion 的方法把待測(cè)樣品共價(jià)存在的鹵素破壞原先的結(jié)構(gòu)，使其變?yōu)橛坞x的離子形態(tài)的鹵素，可以被離子層析法（Ion chromatography） 檢測(cè)到。這樣不管以何種形式存在的鹵素都可以被檢測(cè)到。
以上為鹵素標(biāo)準(zhǔn)采用的測(cè)試方法；目前rohs測(cè)試主要是參考IEC62321文件來(lái)進(jìn)行的，IEC62321文件里面列出了rohs里面各種元素的測(cè)試方法，及XRF在rohs中的作用，并且注明了XRF測(cè)試結(jié)果如何判定是否符合標(biāo)準(zhǔn)，目前電子電器行業(yè)對(duì)于Cl，Br的測(cè)試是參考IEC62321文件來(lái)進(jìn)行的，判斷其結(jié)果是否符合標(biāo)準(zhǔn)也是按照此文件內(nèi)的30%的偏差來(lái)判斷的。

標(biāo)準(zhǔn)配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測(cè)器
數(shù)字多道技術(shù)
鋼鐵行業(yè)測(cè)試配件
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
性能參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào)：EDX 4500
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素
測(cè)量時(shí)間：60秒-200秒
探測(cè)器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
性能特點(diǎn)
高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到較為水平
新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高。在合金檢測(cè)中效果更好
SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來(lái)的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭