XRF型X熒光礦石分析儀

產(chǎn)品介紹

我國的地質(zhì)礦產(chǎn)行業(yè)，從一開始均采用化學分析的手段對地質(zhì)樣品進行測試，這種方法一直沿用到現(xiàn)在依然是一種非?？煽康姆椒?，但是其測試速度慢、對測試人員要求高、測試環(huán)境要求高，無法實現(xiàn)現(xiàn)場快速分析。

從70年代末開始一直在引入國外的分析設(shè)備來不斷提升分析測試能力，到今天在地礦系統(tǒng)中應(yīng)用非常廣泛，產(chǎn)品分為臺式和便攜式。

Genius7000型便攜式

設(shè)備特點

X熒光法在應(yīng)用于礦石行業(yè)的特點很明顯，分析速度快，前處理簡單，樣品無損、人為誤差小、分析范圍廣、檢出限達到ppm級等的特點?？梢詼y液體、固體和粉未樣品。可用于室內(nèi)外現(xiàn)場分析

。

1、設(shè)備簡單易用（野外設(shè)備需要便攜）

2、可快速對樣品做定性分析

3、對樣品可做半定量或準定量分析。

4、樣品處理方法簡單或無前處理

5、設(shè)備可靠、維修、維護簡單

6、便捷、低廉的售后服務(wù)

設(shè)備作用

采用便攜式主要是為了能在野外地質(zhì)分析和找礦。為現(xiàn)場人員提供數(shù)據(jù)支持和依據(jù)。

在找礦和礦山冶煉過程中，也起到快速分析的作用，進行定性、定量分析，提供初級數(shù)據(jù)和生產(chǎn)控制實時數(shù)據(jù)

測試

便攜式X熒光礦石分析儀測定多金屬礦中元素的方法

測試對象：多金屬礦

儀器：Genius 7000XRF

測定步驟：

步：前處理樣品-粉碎后壓片10g左右直接測試。

第二步：確定測試時間：30S

第三步：測試其重復(fù)性得出相對標準偏差

測試結(jié)果

EDX4500型臺式

產(chǎn)品配置

1.全機采用國外的進口配件

2.采用數(shù)字多道技術(shù)，高計數(shù)

3.植入公司-信噪比增強器

4.真空設(shè)計

5.測試元素：Na-U

6.帶有8組準直器與5組濾光片自由切換

7.應(yīng)用面廣

產(chǎn)品特點

1、快速：一般測量一個樣品只需要1～3分鐘，樣品可不處理或進行簡單處理。

2、無損：物理測量，不改變樣品性質(zhì)

3、：對樣品可以分析

4、直觀：直觀的分析譜圖，元素分布一幕了然，定性分析速度快

5、環(huán)保：檢測過程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水

測試

臺式測定鎳礦中元素的方法

測試對象：鎳礦標樣和客戶鎳礦樣

儀器：EDX4500

測定步驟：

步：前處理樣品-粉碎后壓片10g左右直接測試。

第二步：確定測試時間：30S

第三步：測試其重復(fù)性得出相對標準偏差

第四步：客戶提供一批樣品的測試數(shù)據(jù)對比

測試結(jié)果