镀银、镀金、镀镍测厚仪Thick800A工作原理

X射线荧光什么是X射线?X射线存在于电磁波谱中的一个特定区域,它由原子内部电子跃迁产生,其波长范围在0.1-100?;能量大于100电子伏特.什么是X射线荧光?X射线荧光 是一个原子或分子吸收了特定能量的光子后释放出较低能量的光子的过程。

 镀银、镀金、镀镍测厚仪Thick800A产品介绍
 
X荧光测厚仪生产生产厂家——江苏天瑞仪器股份有限公司，新款Thick 800X荧光测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型镀层膜厚测试仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定； 、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。金属镀层分析仪俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、XRF镀层测厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。功能：精密测量金属电镀层的厚度；应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成。
测量范围从22(Ti)到92(U);5 层 (4 镀层 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光谱定性分析;测试方法符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987
技术指标
分析元素范围：硫（S）～铀（U）
同时检测元素：多24个元素，多达5层镀层
分析含量：一般为2ppm到99.9%
X荧光测厚仪镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）
SDD探测器：分辨率低135eV
的微孔准直技术：小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度：15℃～30℃
性能优势
1.精密的三维移动平台
2.的样品观测系统
3.的图像识别
4.轻松实现深槽样品的检测
5.四种微孔聚焦准直器，自动切换
6.双重?；ご胧?，实现无缝防撞
7.采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动自检、复位；
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样；
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦；
直接全景或局部景图像选取测试点；
软件界面测试按钮，自动完成测试并显示结果。

应用领域
金属镀层分析仪广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业。江苏天瑞仪器公司总部在江苏，苏州昆山市，极大方面周边企业的售后服务，同时在各省有技术服务网点。