变频抗干扰介质损耗测试仪主要技术指标

准确度： Cx: ±（读数×1%+1pF）

tgδ: ±（读数×1%+0.00040）

变频抗干扰介质损耗测试仪抗干扰指标：变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述准确度

电容量范围： 内施高压： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV

外施高压： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV

分辨率： 高0.001pF，4位有效数字

tgδ范围： 不限，分辨率0.001%，电容、电感、电阻三种试品自动识别。

试验电流范围：10μA～5A

内施高压： 设定电压范围：0.5～10kV

大输出电流：200mA

升降压方式： 连续平滑调节

电压精度： ±(1.5%×读数+10V)

电压分辨率： 1V

试验频率： 45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自动双变频

频率精度： ±0.01Hz

外施高压： 正接线时大试验电流1A，工频或变频40-70Hz

反接线时大试验电流10kV/1A，工频或变频40-70Hz

CVT自激法低压输出：输出电压3～50V，输出电流3～30A

测量时间： 约40s，与测量方式有关

计算机接口： 标准RS232接口

打印机： 炜煌A7热敏微型打印机

环境温度： -10℃～50℃

相对湿度： <90%