名   称：大平片光谱测试仪

型   号：

品   牌：上海欣茂

上海欣茂大平片光谱测试仪手机屏薄膜反射仪产品简介：

大平片光谱测试仪是专为手机屏IR 油墨小孔测量及液晶显示屏、光学等制造行业的现场检测和质量控制设计的专用测试仪器。

上海欣茂大平片光谱测试仪手机屏薄膜反射仪特点和功能

1、采用*的光、机、电、微计算机?？旎杓?具有超群的性能和性价比，使操作更为简便。

2、配置高性能“全息光栅"的低杂散光高分辨率的单色器,具有出众的光学精度及测量准确性。

3、仪器具有良好的稳定性、重现性。

4、*的自动调校0%T和100%T等控制功能。

5、具有定波长测试、双波长测试（550nm、850nm）及多波长测试和光谱扫描等功能。

6、仪器设计了可变狭缝及超小的测量孔径，满足客户对各种样品的需求。

7、可靠的断电?；ご胧?，可记忆测得数据、扫描图谱、并实现了仪器快速初始化。

8、具有峰谷检测以及平均值的求取等各种高级功能，可快速直接准确的直读数据。

9、仪器具有超大的样品室，克服了传统仪器无法测试尺寸较大样品的缺陷，不需要将样品裁剪成小的尺寸就可直接测试了。

10、LCD数字显示器可显示透射比等参数以及波长读数。

11、标准RS-232通讯接口(串口)，可通过XIN MAO用户应用软件与电脑联机，可实现光度测量、光谱扫描、定量测试、时间扫描及数据处理等功能，使分析工作更理想。

大平片光谱测试仪（手机屏IR 孔测量等）主要技术指标：

波长范围： 325nm～1100nm

波长精度： ±1nm

波长重复性： ≤0.5nm

光谱带宽： 1.6nm（最小测量直径Φ0.5mm）

2.7nm（最小测量直径Φ0.7mm）

5.0nm（最小测量直径Φ1.1mm）

6.6nm（最小测量直径Φ1.4mm）

测量范围 0-125%T, -0.097-2.700A, 0-1999C

透射比准确度： ±0.5%（τ）

透射比重复性： ≤0.2%（τ）

基线直线性： ±0.004A

杂散光： ≤0.3%T(340、420nm)

最 大 可 测 片： 300mm x 400mm

工作电压： AC 100V~240V 50Hz/60Hz