CHY-CA薄膜测厚仪产品简介：

CHY-CA测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。

测试原理：

CHY-CA薄膜厚度测量仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。

执行标准

1、CHY-CA满足多项标准：

2、GB_T_6672-2001塑料薄膜和薄片厚度测定_机械测量法；

3、ASTM D374固体电绝缘材料厚度标准试验方法；

4、ASTM D1777-1996(2002)  测量纺织材料的厚度的标准试验方法；

5、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 451.3、 GB/T 6547、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817等。

CHY-CA薄膜测厚仪技术特征：

1、严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制

2、测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差

3、支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择

4、系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定

5、实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断

6、配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性

7、系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果

8、系统采用微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看

9、标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据

薄膜测厚仪应用领域：

CHY-CA薄膜测厚仪技术指标：