目录:联合光科技（北京）有限公司>>测量仪器>>光学器件性能检测仪器>> 750179高精度低相位干涉仪
| 产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 综合 |
测量抛光光学表面的面型和透射波前
自动光强调节与FlexFlatTM传输平台相结合，减少了操作人员在测量时的干预
无需反复测量，无需扫描测试位置
与其他基于激光的Fizeau干涉仪不同，OptoFlat集成了长寿命的LED光源
内置专有的PurePhaseTM方法提升了在不稳定的振动环境中的干涉相位测量
校准过的低畸变1X和4X光学放大倍率的比例尺准确的测试面积尺寸，可自动标记或用户定义有效通光孔径，便于判定测试合格/不合格
简单易用的测试软件界面便于光学原件的批量测试，使任何人只要稍加培训就可以轻松测试多样的光学原件，专业的样品承载台可快速批量测试每个零件。非接触式传感器开始测量并能快速分析判断产品合格/不合格
设计简洁，占地小，没有杂乱的电缆，只有交流电源和USB电缆到电脑
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