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LensThick非接触式光学测厚仪利用低相干光干涉测量方法来精确测量厚度，以宽谱光源作为相干光源，其相干长度短，只有在测量光和参考光的光程相等时才能产生干涉峰值，因此具有很好的空间定位特性，测厚仪内置光学干涉仪，通过计算透镜前后镜面顶点对应干涉峰之间的距离变化可以得出透镜的中心厚度。

LensThick非接触式光学测厚仪的操作简单，每次可轻松获得可靠的厚度值。测量数据经过数字信号处理器计算，通过USB传输到PC，再以图形的形式显示在用户界面，可直接读取每层厚度值，操作更简单、更直观。
典型应用 

• 光学元件和透镜组件：测量单个镜片以及镜头组包括空气间隔

• LCD、LED、OLED和AMOLED显示屏：测量总厚度和各层厚度，包括LOCA（液体光学透明粘合剂）层

• 抛光玻璃：测量化学腐蚀前后的厚度或抛光工艺，使玻璃板更薄、更轻

• 半导体：硅/砷化镓晶片

主要优势

测量过程
将光学测量头对准被测产品。
激光通过光学测量头照射到材料表面。
光学测量头收集反射光并将其返回到系统的干涉仪进行分析。
测量数据通过USB传输到电脑。
LensThick软件用于显示测量结果、设置参数及输出数据报告。

测量软件
光学测厚仪使用LensThick软件可实时显示被测试产品的厚度和干涉信号，以便实时优化。
自动峰值模式：使用操作员创建的样品设计文件，可以定义最多32个反射面（31层）的预期峰值位置，软件可自动识别在适合的阈度内接近预期峰值位置的峰值，从而计算并输出每层的厚度。
此外，软件还带有判据功能，即超出设计值的公差范围，数据显示为红色。这些功能对质量控制是非?？焖儆行У?。
 

软件界面	测量原理图