产品名称：X荧光膜厚测试仪

产品型号：thick8000

生产厂家：江苏天瑞仪器股份有限公司

生产地址：江苏省苏州昆山市中华园西路1888号

产品介绍

Thick 8000X荧光膜厚测试仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要针对金属镀层（镀镍、镀锌、镀锡、镀铜、镀铑、镀钯、镀银等）膜厚测试，产品*实现智能化，满足客户的测试要求。

性能优势

1.精密的三维移动平台

2.的样品观测系统

3.良好的图像识别

4.轻松实现深槽样品的检测

5.四种微孔聚焦准直器，自动切换

6.双重?；ご胧?，实现无缝防撞

7.采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度

全自动智能控制方式，一键式操作!

开机自动自检、复位；

开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样；

关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦；

直接点击全景或局部景图像选取测试点；

点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示结果。

技术指标

分析元素范围：硫（S）～铀（U）

同时检测元素：多24个元素，多达5层镀层

检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm

分析含量：一般为2ppm到99.9%

镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）

重复性：可达0.1%

稳定性：可达0.1%

SDD探测器：分辨率低至135eV

良好的微孔准直技术：小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm

样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头

准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合

仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm

X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um

操作环境湿度：≤90%

操作环境温度：15℃～30℃

应用领域

膜厚测试仪广泛应用于PCB板企业、电子企业、五金企业、印制电路企业、半导体芯企业、框架和连接器企业、金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。