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三維光學(xué)檢測(cè)儀的幾個(gè)基本概念說明
三維光學(xué)檢測(cè)儀利用光學(xué)原理來采集物體表面三維空間信息的方法和技術(shù)，與傳統(tǒng)的接觸式測(cè)量相比，它是非接觸式的。隨著光學(xué)技術(shù)、數(shù)字?jǐn)z像技術(shù)及計(jì)算機(jī)技術(shù)的迅速發(fā)展，光學(xué)三維測(cè)量技術(shù)也獲得了大的發(fā)展，新的理論與方法不斷被發(fā)現(xiàn)和開發(fā)，逐步解決了許多過去阻礙實(shí)際應(yīng)用的問題。
光學(xué)測(cè)量的幾個(gè)基本概念說明：
1.光學(xué)測(cè)量
就是利用光學(xué)圖像進(jìn)行的測(cè)量，通過圖像處理分析對(duì)目標(biāo)的位置、尺寸、形狀和目標(biāo)間的相互關(guān)系等參數(shù)進(jìn)行測(cè)量。
2.攝影測(cè)量
通常不包括利用特殊的光學(xué)手段、如全息干涉、柵格線法等進(jìn)行的光學(xué)測(cè)量。用航空或衛(wèi)星照片進(jìn)行的大地測(cè)量則習(xí)慣上稱為攝影測(cè)量。近景攝影測(cè)量通常指對(duì)幾十厘米到幾十米距離物體的攝影測(cè)量，通常也屬三維測(cè)量的范疇。
3.光學(xué)三維測(cè)量
利用光學(xué)手段和圖像處理分析方法并運(yùn)用計(jì)算機(jī)圖形學(xué)的理論來數(shù)字化再現(xiàn)物體的三維形態(tài)，在此基礎(chǔ)上，從而可獲取物體各部分間任意的相互尺寸關(guān)系。
隨著科學(xué)技術(shù)和工業(yè)的發(fā)展，光學(xué)三維測(cè)量技術(shù)特別是隨著激光技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)以及圖像處理技術(shù)等高新技術(shù)的發(fā)展，逐步成為人們的研究重點(diǎn)。光學(xué)三維測(cè)量技術(shù)由于非接觸、快速測(cè)量、精度高的優(yōu)點(diǎn)在機(jī)械、汽車、航空航天等制造工業(yè)及服裝、玩具、制鞋等民用工業(yè)得到廣泛的應(yīng)用。