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当前位置：北京沃达谷科贸有限公司>>实验室耗材>> B36XRF荧光光谱仪元素标准膜
| 供货周期 | 一个月 | 应用领域 | 环保,化工,生物产业,农林牧渔,石油 |
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奥富森提供的XRF薄膜标准样品综合了多种高真空镀膜技术进行制备；具有膜层厚度控制精确，厚度均匀，性能稳定等优点，元素纯度可达99.9%以上；同时综合ICP和XRF等检测技术，可精确标定薄膜标样的负载量。
《HJ 830-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定波长色散-X射线荧光光谱法》以及《HJ 829-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定能量色散-X射线荧光光谱法》均要求使用薄膜标样建立仪器的工作曲线。
XRF薄膜标准样品分SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五个负载量系列，其他负载量的产品可根据客户实际需求定制。
可供应的XRF薄膜标准样品的元素如下（可在表格内打√选择样品）：
元素 | SL | VL | L | R | H | 元素 | SL | VL | L | R | H |
Na (NaCl) |
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| Co |
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Mg (MgF2) |
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| Ni |
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Al |
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| Cu |
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Si (SiO2) |
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| Zn (ZnTe) |
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P (GaP) |
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| As (GaAs) |
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S (CuSx) |
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| Se |
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Cl (NaCl) |
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| Sr (SrF2) |
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K (KCl) |
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| Br (CsBr) |
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Ca (CaF2) |
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| Cd (CdSe) |
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Sc (ScF3) |
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| Ba (BaF2) |
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Ti |
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| Pb |
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V |
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| Sn |
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Cr |
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| Sb |
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Mn |
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| In |
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Fe |
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| Mo |
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Ag |
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| Hg (HgTe) |
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可提供超纯铝杯用于XRF测定大气颗粒物的辅助设备，用以消除或减小合金材料样品杯对样品结果的影响；采用*标准样品研究所提供的湖南重金属污染标准土壤样品，参考NIST 2783标样制备方式研制成功混合元素薄膜样品，可用于XRF分析方法的验证以及XRF实验室日常质控工作。
XRF薄膜标准样品的安装形式：
安装环尺寸（厚度为1.5mm的亚克力玻璃）
代码 | 外径(mm) | 内径(mm) |
25 | 25 | 17 |
32 | 32 | 25 |
36 | 36 | 29 |
47 | 47 | 39 |
*36号尺寸。
方形：
50x50mm方形尺寸，内置?32mm的圆环，代码50。
支撑膜材料
代码 | 支撑膜材料 | 备注 |
N | Nuclepore® polycarbonate | 气溶胶多孔膜 |
M6.3 | 6.3μm厚度麦拉膜(Mylar) |
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M3.5 | 3.5μm厚度麦拉膜(Mylar) |
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M6.3型材料。
B |
A |
镀膜方式：
代码 | 镀膜位置排列 |
A | 安装环-元素膜-支撑膜 |
B | 元素膜-支撑膜-安装环 |
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