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当前位置：广东皓天检测仪器有限公司>>恒温恒湿试验箱>>快速温度变化试验箱>> TEB-600PF半导体器件快速温变试验箱
| 产地类别 | 国产 | 内箱尺寸 | 800*800*900 |
|---|---|---|---|
| 外箱尺寸 | 1150*1850*2180 | 用途 | 材料耐高低温测试 |
| 箱体材质 | 防锈处理冷轧钢板 | 噪音 | ≤68db |
| 面板颜色 | 紫罗兰、灰色 |
一、产品概述
二、产品用途
温度范围：高温区：RT +10℃～150℃；低温区：-70℃～RT -10℃，覆盖半导体器件全生命周期的温度测试需求。
温变速率：线性升温速率≥5℃/min，线性降温速率≥5℃/min；非线性温变可达 20℃/min，满足不同测试场景的快速温变要求。
温度波动度：±0.5℃，确保测试过程中温度的稳定性，减少实验误差。
温度均匀度：±2℃，使箱内各区域温度一致，保证测试结果的一致性与可靠性。
工作室尺寸：标准规格 600×600×600mm（宽 × 深 × 高），可根据客户需求定制，适配不同尺寸半导体器件测试。
安全?；?/span>：具备超温?；?、压缩机过载?；ぁ⒙┑绫；ぁ⒍纤；さ榷嘀匕踩阑せ疲Ｕ仙璞赣肴嗽卑踩?。
四、温变系统
制冷系统：采用二元复叠式制冷技术，搭配德国谷轮高效压缩机与环保制冷剂，实现超低温稳定输出；智能变频调节，根据温变需求自动调整制冷功率，节能高效。
加热系统：镍铬合金电加热丝结合 PID 智能控温算法，升温快速且精准，确保高温环境稳定维持。
气流循环系统：多翼式离心风机与优化风道设计，强制空气循环，加速温变过程，使箱内温度快速均匀分布，提升测试效率。
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