高低溫老化恒溫恒濕試驗箱 模擬環(huán)境

設(shè)備用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗；是各類電子、電工、電器、塑膠、光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試 驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備。

高低溫老化恒溫恒濕試驗箱 模擬環(huán)境

1、型號：SMC-150PF    溫度范圍：-40～150℃

2.工作室溫度范圍：0;-20;-40;-60;-70～+100℃(150℃)

3.濕度范圍： 20%～98% R.H（溫度在25℃～80℃時）（可設(shè)定恒濕）

4.溫度均勻度： ≤±2℃ （空載時）

5.濕度均勻度： ≤+2% ~ -3% R.H

6.溫度波動度： ≤±0.5℃（空載時）

7.濕度波動度： ≤±2% 

8.溫度偏差： ≤±2℃ （空載時）

9.濕度偏差： ±2.5%R.H(濕度≥75%R.H)   ±3%R.H(濕度≤75%R.H)

10、降溫速率：0.7～1.2℃/min  

11、升溫速度：1.0～3.0℃/min

12、時間設(shè)定范圍：  0～9999 小時

13、溫度交變范圍：-20;-40;-60;-70；-100℃～100℃(150℃)（自定）

14、濕度交變范圍：30%～98% R.H（自定）

執(zhí)行標準:

GB10589-2006 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB10592-2006-40℃高低溫實驗箱技術(shù)條件

GB11158-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法

GB/T2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法