K-PATENTS折光儀
芬蘭K-PATENTS公司設(shè)計的衛(wèi)生型折光儀用于食品行業(yè)可以廣泛地測量各種食品的Brix糖和濃度以及其它行業(yè)： 測量的滿量程是0-100Brix ；精度可達+/- 0.0002折光率或?qū)?yīng)重量的+/- 0.1 % ；快速溫度測量（6S）自動溫度補償 ；顆粒、氣泡和顏色對測量精度沒有任何影響；所有傳感器的光學(xué)部件都置于CORE光學(xué)模塊內(nèi)。

K-PATENTS折光儀
芬蘭K-PATENTS公司設(shè)計的衛(wèi)生型折光儀用于食品行業(yè)可以廣泛地測量各種食品的Brix糖和濃度以及其它行業(yè)： 測量的滿量程是0-100Brix ；精度可達+/- 0.0002折光率或?qū)?yīng)重量的+/- 0.1 % ；快速溫度測量（6S）自動溫度補償 ；顆粒、氣泡和顏色對測量精度沒有任何影響；所有傳感器的光學(xué)部件都置于CORE光學(xué)模塊內(nèi)。 

芬蘭K-PATENTS公司設(shè)計的衛(wèi)生型折光儀用于食品行業(yè)可以廣泛地測量各種食品的Brix糖和濃度以及其它行業(yè)： 測量的滿量程是0-100Brix ；精度可達+/- 0.0002折光率或?qū)?yīng)重量的+/- 0.1 % ；快速溫度測量（6S）自動溫度補償 ；顆粒、氣泡和顏色對測量精度沒有任何影響；所有傳感器的光學(xué)部件都置于CORE光學(xué)模塊內(nèi)。數(shù)字原理：傳感器一旦根據(jù)需要校準(zhǔn)后，永遠(yuǎn)不用校準(zhǔn)；采用特氟綸和陶瓷材料進行有效傳熱和絕緣，保證在高溫和高壓下進行安全操作（max. 130°C/266°F）。