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相位偏折測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
相位偏折測(cè)量系統(tǒng)相位偏折術(shù)或條紋反射法，是一種非接觸式、低成本、高魯棒性且高精度的面形測(cè)量技術(shù),絕對(duì)檢測(cè)精度可達(dá)10-20nm RMS,可以用于平面、球面、非球...
光譜透過(guò)率測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
光譜透過(guò)率測(cè)量系統(tǒng):AUT GPS-200推出的?套光譜透過(guò)率測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)光譜儀與均勻光源組成透過(guò)率測(cè)量系統(tǒng)，幫助客戶對(duì)光學(xué)玻璃、濾光?、膜層、顯示屏（OLE...
光學(xué)視角檢測(cè)儀—顯示測(cè)量 參考價(jià)：面議
光學(xué)視角檢測(cè)儀—顯示測(cè)量，ELDIM制造基于傅里葉光學(xué)的光學(xué)視角檢測(cè)儀已經(jīng)超過(guò)25年了?；?的光學(xué)設(shè)計(jì)，可以控制系統(tǒng)的角孔徑與測(cè)量光斑大小相獨(dú)立，可以實(shí)現(xiàn)非常...
Mprobe 20 薄膜測(cè)量系統(tǒng) （單點(diǎn)測(cè)量） 參考價(jià)：面議
Mprobe 20 薄膜測(cè)量系統(tǒng) （單點(diǎn)測(cè)量）是一款桌面式單點(diǎn)薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)，只需點(diǎn)擊鼠標(biāo)薄膜厚度和折射率測(cè)量，測(cè)量厚度范圍1nm-1mm.
光腔衰蕩光譜測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
光腔衰蕩光譜方法（CRDS， Cavity Ring-Down Spectroscopy）是一種基于高精細(xì)度諧振腔的高靈敏度探測(cè)技術(shù)，主要用于精確測(cè)量各種反射率...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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