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當(dāng)前位置：> 供求商機> OCI-V-光矢量分析儀
貨物所在地：湖北武漢市
更新時間：2025/1/22 21:00:25
訪問次數(shù)：50
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武漢東隆科技有限公司自研的光矢量分析儀OCI-V其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結(jié)合相干檢測技術(shù)獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損、色散、偏振相關(guān)損耗、偏振模色散等光學(xué)參數(shù)。該系統(tǒng)采用光路設(shè)計以及先進算法，實現(xiàn)智能校準(zhǔn)，操作簡單，極大節(jié)省測試時間。
特點：
自校準(zhǔn)
測量長度：200m
波段：C+L、O波段（可選）
1秒內(nèi)測量多種光學(xué)參數(shù)
應(yīng)用：
平面波導(dǎo)器件
硅光器件
光纖器件
波長可調(diào)器件、放大器、濾波器
測量參數(shù)：
偏振相關(guān)損耗PDL
偏振模色散PMD
插損IL
群延時GD
色散CD
瓊斯矩陣參數(shù)
光學(xué)相位
參數(shù)：
武漢東隆科技有限公司 - 主營產(chǎn)品： OCT光柵,單光子PMT,激光光束品質(zhì)分析儀,相干coher ...
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