在磨料粒度測(cè)量中，可用顯微鏡用顆粒投影的zui大寬度代表顆粒的大小；沉降法用沉降速度的大小來(lái)量度顆粒的大小；庫(kù)爾特法（電阻法）用顆粒在電解液中引起的電阻變化來(lái)測(cè)量顆粒大小；激光粒度儀則用散射（衍射）光斑的大小來(lái)量度顆粒的大小。

幾種磨料微粉粒度測(cè)量?jī)x器的優(yōu)缺點(diǎn)對(duì)比
1.光學(xué)顯微鏡
優(yōu)點(diǎn)：直觀、可靠，同時(shí)還可觀察晶形。
缺點(diǎn)：勞動(dòng)強(qiáng)度大，重復(fù)性差，受人為影響大，不能給出詳細(xì)的粒度分布。
2.美國(guó)式沉降管
優(yōu)點(diǎn)：能給出較詳細(xì)的粒度分布，表述方法更加科學(xué)，能直接測(cè)量zui粗粒，重復(fù)性較好。
缺點(diǎn)：測(cè)量時(shí)間長(zhǎng)（>=30min），手工記錄和處理數(shù)據(jù)，繁瑣。由于所用樣品量大，濃度高，實(shí)際上已不能滿足Stokes公式的適用條件，故測(cè)量結(jié)果與光透沉降法所得結(jié)果相比偏粗，分布偏窄。
3.掃描式光電沉降儀
優(yōu)點(diǎn)：能實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試，和普通光透沉降儀相比量程擴(kuò)大了近7倍。
缺點(diǎn)：測(cè)量時(shí)間偏長(zhǎng)，操作較繁瑣。
4.顆粒圖像處理儀
優(yōu)點(diǎn)：跟顯微鏡方法相比，它避免了手動(dòng)測(cè)量，認(rèn)為影響大為減小，因此重復(fù)性明顯提高，還能給出詳細(xì)的粒度分布。另外，它能按等面積法給出粒度分布，這是顯微鏡法不可能做到的。
缺點(diǎn)：取樣量少，測(cè)量過(guò)程還有少量人工干預(yù)。測(cè)量時(shí)間較長(zhǎng)（15-30min）。
5.庫(kù)爾特（電阻法）計(jì)數(shù)器
優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試速度快（約1min）；由于是逐個(gè)測(cè)量，且所測(cè)顆粒數(shù)量較大，所以測(cè)量精度高，分辨率高。
缺點(diǎn)：?jiǎn)瘟砍虦y(cè)量范圍窄（如2-40μm），小孔管容易堵塞。
6.激光粒度儀
優(yōu)點(diǎn)：測(cè)量速度快（<2min），單量程范圍大，操作方便，重復(fù)性好。
缺點(diǎn)：分辨率相對(duì)較低。