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EL測(cè)試儀可做好晶體硅質(zhì)量的檢測(cè)工作
閱讀：3008 發(fā)布時(shí)間：2021-5-21 EL測(cè)試儀也稱為電致發(fā)光測(cè)試，這是一種基于硅材料的電致發(fā)光原理對(duì)組件執(zhí)行缺陷檢測(cè)和生產(chǎn)過(guò)程監(jiān)控的測(cè)試設(shè)備。儀器使用機(jī)器視覺(jué)檢查方法檢測(cè)和分析電池的表面，以檢查電池組件內(nèi)部是否存在電池裂紋，隱藏裂紋，黑芯，嚴(yán)重的燒結(jié)破損網(wǎng)格，假焊接和拆焊。目前，EL測(cè)試儀主要用于太陽(yáng)能電池的質(zhì)量檢查。
1、為確保自動(dòng)缺陷識(shí)別和分類判斷的準(zhǔn)確性，高像素進(jìn)口工業(yè)相機(jī)。
2、對(duì)于單晶電池，可以準(zhǔn)確實(shí)現(xiàn)內(nèi)部缺陷的自動(dòng)識(shí)別和分類。
3、對(duì)于多晶硅電池，目前可以實(shí)現(xiàn)輔助診斷學(xué)習(xí)功能，并將逐漸從診斷學(xué)習(xí)過(guò)渡到自動(dòng)缺陷識(shí)別。
4、并可以實(shí)現(xiàn)雙工位進(jìn)料方式，測(cè)試速度為1800P/H，平均2s/件。
5、五個(gè)卸貨站，用戶可以自行設(shè)置相應(yīng)的分揀類型。
6、人機(jī)界面動(dòng)態(tài)監(jiān)控設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)，充分實(shí)現(xiàn)智能自動(dòng)化。
7、用戶可以根據(jù)實(shí)際需要選擇一種。正向/反向/正向/反向。
EL測(cè)試儀用于在檢查周期內(nèi)檢測(cè)晶體硅的缺陷，它可以與客戶的生產(chǎn)線配套使用，以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)裝卸，自動(dòng)測(cè)試和手動(dòng)標(biāo)記缺陷。PC控制軟件存儲(chǔ)在本地或遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)庫(kù)中，可以通過(guò)以太網(wǎng)接口連接到客戶系統(tǒng)，傳輸測(cè)試結(jié)果和警報(bào)信息，并可以根據(jù)客戶需求自定義功能。