LBT涂层测厚仪主要用途：
本仪器采用了磁性和涡流测厚方法，可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度 。
 
技术参数：
测量范围0-1250mm
测量精度±3%H±1.5ｕm
显示精度0~99.99ｕm:0.1ｕm 100ｕm以上：1ｕm
Z小基体10X10mm
Z小曲率凸：5mm   凹：25mm
Z薄基体0.5mm

LBT涂层测厚仪主要用途：

本仪器采用了磁性和涡流测厚方法，可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度 。

 

LBT涂层测厚仪技术参数：

测量范围	0-1250mm
测量精度	±3%H±1.5ｕm
显示精度	0~99.99ｕm:0.1ｕm 100ｕm以上：1ｕm
zui小基体	10X10mm
zui小曲率	凸：5mm   凹：25mm
zui薄基体	0.5mm
环境温度	0℃~40℃相对湿度：不过85%
电源	DC9VX1

 

图片展示

 

涂层测厚仪主要用途：

本仪器采用了磁性和涡流测厚方法，可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度 。

涂层测厚仪主要用途：

本仪器采用了磁性和涡流测厚方法，可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度 。

 

涂层测厚仪主要用途：

本仪器采用了磁性和涡流测厚方法，可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度 。

 

涂层测厚仪主要用途：

本仪器采用了磁性和涡流测厚方法，可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度 。

 

涂层测厚仪主要用途：

本仪器采用了磁性和涡流测厚方法，可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度 。