布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-100

ContourX- 100光學(xué)輪廓儀為準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式表面計量樹立新的形象。

該小尺寸系統(tǒng)采用流線型設(shè)計,結(jié)合了數(shù)十年專有的布魯克白光干涉儀(WLI)創(chuàng)新,可提供2D / 3D高分

辨率測量功能。滿足計量要求的臺式系統(tǒng)具有*進(jìn)的友好用戶界面，可直觀訪問多種預(yù)編程濾鏡和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜和摩擦學(xué)應(yīng)用分析。

新一代增強(qiáng)功能包括新的五百萬像素攝像頭,新的載物臺和新的測量模式,提供了更大的靈活性。

布魯克光學(xué)輪廓儀ContourX-100

快速、可重復(fù)的三維計量

■與 放大倍率無關(guān)的Z軸分辨率

■大尺寸的標(biāo)準(zhǔn) 視場

■高穩(wěn)定性和重復(fù)性的集成防震設(shè)計

測量和分析功能

■易于使用的界面， 可快速準(zhǔn)確地獲得結(jié)果

■廣泛的濾鏡和分析工具選項,用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測量分析，可用于表面粗糙度，RDLxian進(jìn)封裝工藝厚度等測試。

■滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)的定制化分析報告

計量功能

ContourX-100輪廓儀是布魯克在非接觸表面計量、表征和成像領(lǐng)域超過四十年的專有光學(xué)創(chuàng)新和作為的結(jié)晶。該系統(tǒng)結(jié)合三維白光干涉和二維成像技術(shù)在單次測量中實現(xiàn)多種分析。

ContourX-100對于反射率從0.05%到百分一百的各種表面都非常易于測量。

分析與回報

通過上千項自定義分析功能和簡易但功能強(qiáng)大的VisionXpressM和Vision64@用戶界面，ontourX-100為提高實驗室和工廠車間的生產(chǎn)率進(jìn)行了優(yōu)化。這種*的硬件和軟件組合提供了對高重復(fù)性和高通量計量學(xué)測量的便捷訪問,*超過了同類計量技術(shù)。