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E+H超聲波物位計對介質(zhì)環(huán)境及測量的影響
閱讀：735 發(fā)布時間：2018-3-15
E+H超聲波物位計
廣泛用于各行業(yè)中液體，氣體和蒸汽的體積流量測量。如過熱蒸汽，飽和蒸汽，壓縮空氣，氮?dú)?，液化氣，廢氣，二氧化碳，軟化水，溶劑，鍋爐供水，冷凝物等等。蒸汽系統(tǒng)的質(zhì)量或熱量運(yùn)算可以通過渦街流量計配壓力測量、溫度測量以及計算儀構(gòu)成的能量測量系統(tǒng)準(zhǔn)確測量，有效節(jié)能，減少成本。
E+H超聲波物位計的影響
(1)介質(zhì)及環(huán)境溫度的影響
超聲波從物料表面反射時，其反射頻率會受到物料溫度的影響而發(fā)生變化，為了補(bǔ)償這一變化，超聲波探頭內(nèi)裝有溫度傳感器，當(dāng)探頭向處理器發(fā)送反射信號的同時，也把溫度信號送到微處理器，處理器將自動補(bǔ)償由于溫度對料位測量的影響。
此外，為了保證探頭的可靠工作，要求環(huán)境溫度不超過60℃。
(2)攪拌器對E+H超聲波物位計測量的影響
如果物料容器內(nèi)裝攪拌器，它同樣會反射超聲波信號，造成假反射回波，并被傳送到微處理器。微處理器將根據(jù)統(tǒng)計學(xué)原理處理真假面具回波，所以要求超聲波從物料表面反射的回波應(yīng)至少為從攪拌器臂反射的回波的3倍。適當(dāng)降低攪拌器的轉(zhuǎn)速，或?qū)⑻筋^偏離攪拌中心，都可以有效消除攪拌器產(chǎn)生的假面反射對料位測量的影響。