天星渦流測(cè)厚儀ED400

天星渦流測(cè)厚儀ED400（也稱涂層測(cè)厚儀、氧化膜測(cè)厚儀）適用于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。渦流測(cè)厚儀ED400采用磁性測(cè)厚方法，可無損地測(cè)量磁性金屬基體（如：鋼、鐵、鎳）上非磁性覆層的厚度（如：鍍鋅、鉻、油漆、電泳、琺瑯、橡膠、粉未、搪瓷、防腐層等），本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造、金屬加工、化工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。

技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍：     0～500μm

測(cè)量精度：     0～50μm：±1μm；
                    50～500μm：±2%

分辨率：     0～50μm：0.1μm、
                    50～500μm：1μm；
                    0～500μm：1μm（可選）

使用溫度：     5～45℃

外形尺寸：     150mm×80mm×30mm

重      量：     260g

渦流測(cè)厚儀ED400配置與選配：