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徠卡偏光顯微鏡優(yōu)點
閱讀：3921 發(fā)布時間：2017-7-28
徠卡偏光顯微鏡設計用于各種偏振光檢驗：無論是用于巖相學、礦物學、結構特性還是液晶檢驗– 新型偏光顯微鏡都能滿足各種要求的理想選擇。
徠卡偏光顯微鏡將向您展現(xiàn)顯微鏡能有多簡單、多可靠。方便的操作原理使您能改進工作流程，把注意力*集中在手頭的工作上。
徠卡偏光顯微鏡不言而喻的優(yōu)點：
偏振對比度提高，能獲得更多的標本信息
操作簡單，能在透偏光及落射偏光下對標本進行的評估符合人機工效性操作原理，工作更輕松。
卡偏光顯微鏡可集成相機和軟件模塊，以便更迅速、更輕松地反復制作文檔配合各種各樣的選用設備，徠卡顯微系統(tǒng)有限公司的偏光顯微鏡同樣是工業(yè)應用的理想伙伴。無論是用于分析玻璃、塑料、紡織品和纖維還是半導體行業(yè)的測試顯示，徠卡顯微鏡總是能保證zui、可靠的結果。