美国GE 超声波测厚仪 CL5

美国GE 超声波测厚仪 CL5具有功能全面、使用简便、体积小巧和结构牢固的优点。位于显示屏正下方的3个软键启动所显示菜单上的各种功能。利用四个方向键可以简单而高效地切换菜单和浏览文本输入画面。图形显示为用户提供了6种不同的操作模式。用户可以在常规、zui小值扫描、zui大值扫描、差值/减薄率、厚度+A扫描(选件)或声速测试(选件)中进行选择。CL5采用可编程数据记录器，可以方便在电脑上设置数据文件。SD卡存储系统将所有数据记录和设置信息存储在可拆卸SD存储卡上。将测厚仪直接插入电脑后，文件的格式允许进行拖放操作。其它数据，比如数码照片，也可以存储在同一张SD卡上。

还具有以下这些优点：
- 高测量性能提供具有高度稳定性和可重复性的厚度值
- 六种测量和显示模式：常规、zui小厚度捕获、zui大厚度捕获、差值和减薄率、声速测试(要求配有CL 5V选项)和厚度+A扫描(要求配有实时A扫描选项)
- 所有型号都具有A扫描快照功能
- 空心/实心厚度值指示耦合或非耦合状态
- 可视LED报警提醒用户测量超出了用户可以选择的极限值。
- 用于特殊配置的客户参数设置以及快速仪器设置
- 灵活的电源系统，可通过标准AA电池或可充电电池组供电。
- 多语言用户界面
- 自动超声波调节性能(增益和闸门控制)
- 支持多种类的标准探头